[发明专利]母衬底、其阵列测试方法及显示器衬底

说明书

母衬底包括：通过划线定义的显示器衬底单元，该显示器衬底单元包括多条栅线、驱动栅线的栅电路部分、以及连接至栅电路部分的栅焊盘部分；在围绕显示器衬底单元的周围区域中的栅测试焊盘部分，该栅测试焊盘部分被配置为接收栅测试信号；连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的栅测试线部分；以及连接至栅测试线部分并被配置为控制栅测试线部分的导通和断开的开关部分。

技术领域

示范性实施例涉及母衬底、其阵列测试方法以及显示器衬底。更具体地，示例实施例涉及免于静电的母衬底、其阵列测试方法以及显示器衬底。

背景技术

一般，液晶显示器(LCD)面板包括：包括多条栅线、多条数据线和多个像素的显示器衬底；向栅线输出栅信号的栅驱动电路；以及向数据线输出数据信号的数据驱动电路。栅驱动电路和数据驱动电路被安放在显示器衬底上，例如，碎片形状。

每个像素包括像素电极和薄膜晶体管。薄膜晶体管连接到数据线、栅线和像素电极，并且驱动像素电极。

当前，为了减小栅驱动电路的总尺寸并减小LCD的尺寸，以及为了简化LCD的制造，已经开发出将栅驱动电路集成在显示器衬底上的工艺。栅驱动电路包括经由与形成像素的薄膜晶体管基本上相同的工艺来形成的薄膜晶体管。从而，栅驱动电路的薄膜晶体管包括与像素的薄膜晶体管相同的有源层。

发明内容

根据示范性实施例，提供了一种母衬底。该母衬底包括：通过划线定义的显示器衬底单元，该显示器衬底单元包括多条栅线、驱动栅线的栅电路部分和连接至栅电路部分的栅焊盘(pad)部分；在围绕显示器衬底单元的周围区域中的栅测试焊盘部分，栅测试焊盘部分被配置为接收栅测试信号；栅测试线部分，连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分；以及开关部分，连接至栅测试线部分并且被配置为控制栅测试线部分的导通和断开。

在示范性实施例中，栅测试焊盘部分可以包括：测试控制焊盘，被配置为接收控制开关部分的操作的测试控制信号；以及多个栅测试焊盘，被配置为接收控制栅电路部分的操作的多个栅测试信号。

在示范性实施例中，开关部分可以包括并行的连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的多个开关元件，该开关元件响应于测试控制信号而驱动。

在示范性实施例中，每个开关元件可以包括多个串行相互连接的晶体管，该晶体管响应于测试控制信号而驱动。

在示范性实施例中，开关部分可以包括连接栅测试焊盘部分和栅焊盘部分的开关元件，该开关元件包括串行相互连接的多个晶体管。

在示范性实施例中，开关部分可以被布置在邻近于栅焊盘部分被布置在的区域的区域中。

在示范性实施例中，开关部分可以被布置在相对于划线的显示器衬底单元的外部区域中。

在示范性实施例中，开关部分可以被布置在相对于划线的显示器衬底单元的内部区域中。

在示范性实施例中，栅测试信号可以包括驱动栅电路部分的多个时钟信号、多个OFF(断开)信号和至少一个垂直开始信号。

在示范性实施例中，栅电路部分可以包括多个电路晶体管，每个电路晶体管包括氧化物半导体。

在示范性实施例中，栅电路部分可以包括多个电路晶体管，每个电路晶体管包括非晶硅。

根据另一示范性实施例，还提供了一种用于显示器衬底单元的母衬底的阵列测试方法，该显示器衬底单元包括多条数据线、多条栅线、驱动栅线的栅电路部分以及连接至栅电路部分的栅焊盘部分。所述阵列测试方法包括：导通连接栅焊盘部分和栅测试焊盘部分的栅测试线部分；在显示器衬底单元的阵列测试过程期间接收栅测试信号；以及在阵列测试过程之前和之后断开栅测试线部分。

在示范性实施例中，阵列测试方法进一步包括在阵列测试过程期间导通开关部分，并且在阵列测试过程之前和之后关断开关部分，其中开关部分连接至栅测试线部分。