[发明专利]测量液晶层盒厚与预倾角的方法

权利要求书

1.一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、在阵列基板(1)与彩膜基板(3)上分别相应定义有效显示区域(5)及位于有效显示区域(5)外围的数个测量区域(7)，于有效显示区域(5)与测量区域(7)分别制作一致的图案；

步骤2、将形成图案的阵列与彩膜基板(1、3)对应有效显示区域(5)与测量区域(7)分别涂上胶框和滴入液晶；

步骤3、将涂有胶框和滴有液晶的阵列与彩膜基板(1、3)完成对组、烘烤、配向制程；

步骤4、对有效显示区域(5)与测量区域(7)分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量，并对测量数据进行处理。

2.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述有效显示区域(5)相互间隔设置，所述测量区域(7)的面积小于有效显示区域(5)的面积。

3.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述测量区域(7)的形状为矩形。

4.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述数个测量区域(7)分别设置于阵列、彩膜基板(1、3)的四周及相邻两个有效显示区域(5)之间。

5.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述步骤2包括在所述有效显示区域(5)的四周边缘涂布第一胶框(51)，并向该第一胶框内(51)滴入液晶；及在所述数个测量区域(7)的四周边缘涂布第二胶框(71)，并向该第二胶框(71)内滴入液晶。

6.如权利要求5所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，向第二胶框(71)内滴入的液晶为标准液滴大小的液晶。

7.如权利要求5所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述第一胶框(51)涂布于彩膜基板(3)上或涂布于阵列基板(1)上；所述第二胶框(71)涂布于彩膜基板(3)上或涂布于阵列基板(1)上。

8.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述步骤4通过软件设定将测量镜头对准所述测量区域(7)进行液晶层盒厚与预倾角的测量。

9.如权利要求1所述的测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，所述步骤1中，在阵列各制程中对各层膜厚、线宽、线距、及电性特性进行测量。