[发明专利]测量液晶层盒厚与预倾角的方法有效
申请号: | 201410415863.5 | 申请日: | 2014-08-20 |
公开(公告)号: | CN104166254B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 谢克成 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01B11/06;G01B11/26 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 液晶 层盒厚 倾角 方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法。
背景技术
液晶显示装置(LCD,Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。如:液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。
通常液晶显示装置包括壳体、设于壳体内的液晶显示面板及设于壳体内的背光模组(Backlight module)。其中,液晶显示面板主要是由一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate,TFT Array Substrate)、一彩膜基板(Color Filter,CF)、以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成,其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转,将背光模组的光线折射出来产生画面。
盒厚(Cell gap)与预倾角(Pre angle)是影响液晶显示面板性能的两个重要参数。
盒厚即配置于阵列基板与彩膜基板之间的液晶层的厚度,盒厚会影响液晶显示面板的透光率及液晶的反应时间。为了获得高对比度,高亮度,高响应速度的显示效果,必须严格控制盒厚,同时需保证盒厚均匀,避免液晶显示器底色变化,造成颜色不均。
为了使液晶分子排列较规则,在阵列基板与彩膜基板靠近液晶层的一侧分别设置有经摩擦处理过的聚酰亚胺(Polyimide,PI)导向膜,PI导向膜中的支链基团与液晶分子间的作用力比较强,对液晶分子有锚定作用,使液晶分子在相对于PI导向膜表面倾斜的某一极角上取向排列,这一极角就是液晶层的预倾角。预倾角可控制液晶分子的取向,防止液晶层中反倾畴的出现, 在一定程度上还可影响液晶层的透光率—电压曲线,适当的预倾角可使阈值电压降低,液晶响应速度加快。
在液晶显示面板生产过程中,需要对盒厚与预倾角进行测量。通常液晶显示面板制程需先制作液晶显示母板:在阵列基板或彩膜基板上涂布密封胶框、注入液晶,再对阵列基板与彩膜基板进行对组、烘烤、配向等制程,完成液晶显示母板的制作,最后将液晶显示母板切割成多个特定尺寸的单个液晶显示面板。由于在液晶显示母板制作过程中位于阵列基板与彩膜基板不同位置处的各膜层的厚度不同,引起液晶注入量不同,容易造成液晶显示母板不同位置的盒厚与预倾角不一致,达不到设计要求。传统的测量盒厚与预倾角的方法仅针对液晶显示母板内某单个液晶显示面板的有效显示区域进行测量,但液晶显示母板整体的膜厚均匀性不佳,容易发生盒厚与预倾角测量不到的现象,起不到有效的监控作用。随着对液晶显示产品的精细度及显示均匀性的要求越来越高,使用传统的测量方法已不能满足生产需求,且不利于液晶显示产品的良性长久开发。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法,能够较准确的测量液晶显示母板的盒厚与预倾角,对盒厚与预倾角进行有效监控,保证产品品质,有利于产品的快速开发与过程控制。
为实现上述目的,本发明提供一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法,包括以下步骤:
步骤1、在阵列基板与彩膜基板上分别相应定义有效显示区域及位于有效显示区域外围的数个测量区域,于有效显示区域与测量区域分别制作一致的图案;
步骤2、将形成图案的阵列与彩膜基板对应有效显示区域与测量区域分别涂上胶框和滴入液晶;
步骤3、将涂有胶框和滴有液晶的阵列与彩膜基板完成对组、烘烤、配向制程;
步骤4、对有效显示区域与测量区域分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量,并对测量数据进行处理。
所述有效显示区域相互间隔设置,所述测量区域的面积小于有效显示区域的面积。
所述测量区域的形状为矩形。
所述数个测量区域分别设置于阵列、彩膜基板的四周及相邻两个有效显示区域之间。
所述步骤2包括在所述有效显示区域的四周边缘涂布第一胶框,并向该第一胶框内滴入液晶;及在所述数个测量区域的四周边缘涂布第二胶框,并向该第二胶框内滴入液晶。
向第二胶框内滴入的液晶为标准液滴大小的液晶。
所述第一胶框涂布于彩膜基板上或涂布于阵列基板上;所述第二胶框涂布于彩膜基板上或涂布于阵列基板上。
所述步骤4通过软件设定将测量镜头对准所述测量区域进行液晶层盒厚与预倾角的测量。
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