[发明专利]OLED接触阻抗测试组件有效
| 申请号： | 201410431193.6 | 申请日： | 2014-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN104198817B | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 许嘉哲 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司31229 | 代理人： | 曾耀先 |
| 地址： | 201508 上海市金山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | oled 接触 阻抗 测试 组件 | ||
1.一种OLED接触阻抗测试组件，设置于OLED面板上，其特征在于，包括：
位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；
设置于OLED面板边缘的多个测试点；
连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述测试点和所述连接线采用所述连接线部分重叠于所述测试点上方的方式连接，所述OLED阴极材料层和所述连接线采用所述OLED阴极材料层部分重叠于所述连接线上方的方式连接。
2.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：每一个所述测试点和所述连接线的重叠面积相等。
3.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：每一个连接线和所述OLED阴极材料层的重叠面积相等。
4.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：所述连接线的材质和所述OLED面板内部的OLED阳极的材质相同。
5.如权利要求4所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：所述连接线由银薄膜和氧化铟锡薄膜组成。
6.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：所述测试点的材质和所述OLED面板内部的OLED驱动单元的阳极的材质相同。
7.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：所述OLED阴极材料层的材质为镁铝合金。
8.如权利要求1所述的OLED接触阻抗测试组件，其特征在于：所述OLED阴极材料层的上方设置有盖板玻璃。
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