[发明专利]OLED接触阻抗测试组件有效

申请号：	201410431193.6	申请日：	2014-08-28
公开（公告）号：	CN104198817B	公开（公告）日：	2017-02-01
发明（设计）人：	许嘉哲	申请（专利权）人：	上海和辉光电有限公司
主分类号：	G01R27/02	分类号：	G01R27/02
代理公司：	上海唯源专利代理有限公司31229	代理人：	曾耀先
地址：	201508 上海市金山区***	国省代码：	上海;31
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摘要：
搜索关键词：	oled 接触阻抗测试组件
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【说明书】：

技术领域

本发明涉及一种OLED面板测试组件，尤其涉及一种OLED接触阻抗测试组件。

背景技术

有机发光二极管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode,AMOLED)为新世代的显示器技术，其具有自发光、广视角、对比度、低耗电、高响应速度、高分辨率、全彩薄型化等优点，具有挑战成为未来主流的显示器技术。

AMOLED在背板组件部分，现行技术主要采用LTPS(Low Temperature Poly Silicon)制程，再搭配OLED蒸镀封装制程与模块偏光膜与IC贴合制程，最终完成一个面板显示器。

如图1所示，现有技术中的OLED面板的发光过程中AMOLED面板中的OLED驱动单元44利用薄膜晶体管(TFT)的开关特性将电洞流讯号由OLED驱动单元的阳极43传至相对应的OLED的阳极42，同时OLED的阴极材料层33将电子流讯号也传至相对应的OLED，利用电子电洞在发光材料层(EML)的结合而产生自发光的特性。

如上所述AMOLED面板包括很多复杂的步骤制成的复杂结构，所以在AMOLED面板制作过程中缺乏有效的监控机制来监控阳极与阴极等相关制程的不良带来的问题，如阳极电阻抗偏高、阴极电阻抗偏高、PD Taper Profile不良、阴极接口污染、阳极接口污染等问题，这些都会造成组件发光效率低落或甚至失效，故当AMOLED发光效率不好时，往往需要花费很长时间找到问题的原因，因此很难在短时间防范进而造成生产成本的损失。

发明内容

本发明的目的在于提供一种OLED接触阻抗测试组件，通过该组件可以测量OLED面板内部一些结构的接触阻抗，从而在AMOLED制程发生问题时可以快速定位问题。

为了解决上述问题及其它问题，本发明提出了一种OLED接触阻抗测试组件，其包括：

位于OLED面板内部的OLED阴极材料层；

设置于OLED面板边缘的多个测试点；

连接所述OLED阴极材料层和所述测试点的连接线，所述测试点和所述连接线采用所述连接线部分重叠于所述测试点上方的方式连接，所述OLED阴极材料层和所述连接线采用所述OLED阴极材料层部分重叠于所述连接线上方的方式连接。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：每一个所述测试点和所述连接线的重叠面积相等。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：每一个连接线和所述OLED阴极材料层的重叠面积相等。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：所述连接线的材质和所述OLED面板内部的OLED阳极的材质相同。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：所述连接线由银薄膜和氧化铟锡薄膜组成。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：所述测试点的材质和所述OLED面板内部的OLED驱动单元的阳极的材质相同。

本发明的OLED接触阻抗测试组件的进一步改进在于：所述OLED阴极材料层的材质为镁铝合金。