[发明专利]集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置

权利要求书

1.一种集成电路，包括：

片上逻辑，包括输入端、输出端和在输入端与输出端之间的扫描链中连接的多个顺序连接的同步电路；

测试数据输入线；

测试数据输出线，连接到输出端；

测试接入端口控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从包括测试数据输入线和输出端的多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端；

可编程存储器，存储控制信号；

掩膜电路，基于从可编程存储器输出的控制信号控制测试数据输出线和测试数据输出引脚之间的连接，使得：当从可编程存储器输出的控制信号具有第一电平时，从输出端输出的数据经由测试数据输出引脚被输出到所述集成电路的外部；当从可编程存储器输出的控制信号具有第二电平时，从输出端输出的数据不经由测试数据输出引脚被输出到所述集成电路的外部，

其中，输出端通过测试数据输出线和掩膜电路连接到测试数据输出引脚。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其中，测试接入端口控制器对从输出端输出的数据进行反相，并将反相的数据反馈到输入端。

3.根据权利要求1所述的集成电路，其中，测试接入端口控制器包括存储用户定义的数据的寄存器组，并且数据源还包括寄存器组。

4.根据权利要求3所述的集成电路，其中，测试接入端口控制器将从输出端输出的数据的一部分改变为用户定义的数据。

5.根据权利要求1所述的集成电路，其中，测试接入端口控制器包括存储一个或者更多个可编程选择信号的一个或者更多个寄存器。

6.根据权利要求1所述的集成电路，其中，当一个选择信号为第一选择信号时，测试接入端口控制器包括基于第一选择信号控制测试数据输入线和输出端中的一个与输入端之间的连接的选择电路。

7.根据权利要求1所述的集成电路，其中，当选择信号包括第一选择信号和第二选择信号并且第一反相器被布置在所述多个顺序连接的同步电路中的最后一个同步电路和输出端之间时，测试接入端口控制器包括：

第二反相器，连接到输出端；

第二选择电路，基于第二选择信号输出从输出端输出的数据或者第二反相器的输出数据；

第一选择电路，基于第一选择信号控制测试数据输入线和第二选择电路的输出端中的一个与输入端之间的连接。

8.根据权利要求1所述的集成电路，其中，当选择信号包括第一选择信号和第二选择信号时，测试接入端口控制器包括：

寄存器组，存储用户定义的数据；

第二选择电路，基于第二选择信号输出从输出端输出的数据或者用户定义的数据；

第一选择电路，基于第一选择信号控制测试数据输入线和第二选择电路的输出端中的一个与输入端之间的连接。

9.根据权利要求8所述的集成电路，其中，测试接入端口控制器还包括：

改变数据寄存器，当发生改变时存储与从输出端输出的数据的一部分到用户定义的数据的改变相关联的改变数据；

计数器，对经由联合测试行为组织接口提供给片上逻辑的测试时钟信号的周期进行计数，并输出与计数的结果对应的计数值；

比较器，比较与改变数据相关联的参考值和所述计数值，并输出与比较的结果对应的标志；

寄存器，存储关于第二选择电路的控制数据；

选择信号发生器，通过对所述标志和控制数据执行逻辑运算来产生第二选择信号。

10.根据权利要求1所述的集成电路，其中，当选择信号包括第一选择信号、第二选择信号和第三选择信号时，测试接入端口控制器包括：

寄存器组，存储用户定义的数据；

第三选择电路，基于第三选择信号输出从输出端输出的数据或者用户定义的数据；

反相器，连接到第三选择电路的输出端；

第二选择电路，基于第二选择信号输出第三选择电路的输出数据或者反相器的输出数据；

第一选择电路，基于第一选择信号控制测试数据输入线和第二选择电路的输出端中的一个与输入端之间的连接。