[发明专利]集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置

说明书

公开了一种集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置。所述集成电路(IC)包括：片上逻辑，包括输入端、输出端和在扫描链中连接的多个同步电路；测试数据输入(TDI)线；测试数据输出(TDO)线，连接到输出端；测试接入端口(TAP)控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端，其中，所述数据源包括TDI线和输出端。

本申请要求于2013年9月2日提交的第10-2013-0104710号韩国专利申请的优先权，其公开通过引用完整地包含于此。

技术领域

本发明构思涉及一种包括联合测试行为组织测试接入端口(JTAG TAP)控制器的集成电路(IC)。

背景技术

JTAG是用于IEEE 1149.1标准测试接入端口和边界扫描结构的通用术语。最初设计JTAG是用于利用边界扫描来测试印刷电路板，并且JTAG仍然用于这种应用。JTAG还可用于IC调试端口。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种集成电路(IC)，包括：片上逻辑(on-chip logic)，包括输入端、输出端和在扫描链中连接的多个同步电路；测试数据输入(TDI)线；测试数据输出(TDO)线，连接到输出端；测试接入端口(TAP)控制器，响应于一个或者更多个选择信号，将从多个数据源中的一个输出的数据发送到输入端，其中，所述数据源包括TDI线和输出端。

所述集成电路还可包括：掩膜电路，基于从可编程存储器(PM)输出的控制信号控制TDO线和TDO引脚之间的连接。

根据本发明构思的示例性实施例，TAP控制器可对从输出端输出的数据进行反相，并且可将反相的数据反馈到输入端。根据本发明构思的示例性实施例，TAP控制器可包括存储用户定义的数据的寄存器组，数据源还可包括寄存器组。根据本发明构思的示例性实施例，TAP控制器可将从输出端输出的数据的一部分改变为用户定义的数据。根据本发明构思的示例性实施例，TAP控制器可包括存储一个或者更多个可编程选择信号的一个或者更多个寄存器。

根据本发明构思的示例性实施例，当一个选择信号为第一选择信号时，TAP控制器可包括基于第一选择信号控制TDI线和输出端中的一个与输入端之间的连接的选择电路。根据本发明构思的示例性实施例，当选择信号包括第一选择信号和第二选择信号并且第一反相器被布置在多个同步电路中的最后一个同步电路和输出端之间时，TAP控制器可包括：第二反相器，连接到输出端；第二选择电路，基于第二选择信号输出从输出端输出的数据或者第二反相器的输出数据；第一选择电路，基于第一选择信号控制TDI线和第二选择电路的输出端中的一个与输入端之间的连接。

根据本发明构思的示例性实施例，当选择信号包括第一选择信号和第二选择信号时，TAP控制器可包括：寄存器组，存储用户定义的数据；第二选择电路，基于第二选择信号输出从输出端输出的数据或者用户定义的数据；第一选择电路，基于第一选择信号控制TDI线和第二选择电路的输出端中的一个与输入端之间的连接。

根据本发明构思的示例性实施例，TAP控制器可包括：改变数据寄存器，当发生改变时存储与从输出端输出的数据的一部分到用户定义的数据的改变相关联的改变数据；计数器，对经由联合测试行为组织(JTAG)接口提供给片上逻辑的测试时钟(TCK)信号的周期进行计数，并输出与计数的结果对应的计数值；比较器，比较与改变数据相关联的参考值和计数值，并输出与比较的结果对应的标志；寄存器，存储关于第二选择电路的控制数据；选择信号发生器，通过对标志和控制数据执行逻辑运算来产生第二选择信号。