[发明专利]用于确定投影机的辐射区域中的手势的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410457663.6 申请日: 2014-06-19
公开(公告)号: CN104279979B 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: G·姆鲁塞克;T·希普;R·施尼策尔;F·菲舍尔;L·劳舍尔;C·德尔福斯;M·刘;G·皮拉德 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/00;G01J1/20;G01J1/42
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曾立
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 投影机 光强度函数 手势 第二位置 辐射区域 测量 投影 图像 方法和装置 结果确定 强度分配 反射 分配
【权利要求书】:

1.一种用于确定投影机(1;101)的辐射区域(3;103)中的手势的方法,所述方法具有以下方法步骤:

借助所述投影机(1;101)借助光将图像(10)投影到表面(2)上;

在第一时刻,测量在所述投影机(1;101)的辐射区域(3;103)中所做的手势的影响下的来自所述表面(2)方向的经反射的光的第一数量的多个光强度,将所测量的第一数量的多个光强度中的一个分别分配给由所述投影机(1;101)投影的图像(10)的一个位置,基于所测量的第一数量的多个光强度的分配在所述图像的位置的至少一个子集上建立第一光强度函数(7a,7b);

在第二时刻,测量在所述投影机(1;101)的辐射区域(3;103)中所做的手势的影响下的来自所述表面(2)方向的经反射的光的第二数量的多个光强度,将所测量的第二数量的多个光强度中的一个分别分配给由所述投影机(1;101)投影的图像(10)的一个位置,基于所测量的第二数量的多个光强度的分配在所述图像的位置的至少一个子集上建立第二光强度函数(7a’,7a”,7b’);

将所述第一光强度函数(7a,7b)与所述第二光强度函数(7a’,7a”,7b’)进行比较;并且

基于所述比较的结果确定所做的手势。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,通过以下方式实现所述分配:在实施光强度的测量的每一个时刻提供关于所述投影机(1;101)在所述时刻投影了所述图像(10)的哪一部分的信息,并且将所测量的光强度分配给所述图像(10)的所述部分的位置。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,仅仅当分配所测量的强度的位置在所投影的图像(10)上设置在所投影的图像(10)的水平的和/或垂直的图像边缘(14)中时才实施测量所述第一数量的多个光强度和分配第一数量的多个光强度。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述水平的和/或垂直的图像边缘(14)的宽度在1个和100个像素之间。

5.根据权利要求3或4中任一项所述的方法,其中,在所述水平的和/或垂直的图像边缘(14)中投影预定义的测试图样。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其具有以下方法步骤:

确定所述第一光强度函数(7a,7b)中的显著的部位(A,B,C,D)并且确定所述第二光强度函数(7a’,7a”,7b’)中的显著的部位(B’,B”,B”’,D’,D”,D”’);

将所述第一光强度函数(7a,7b)中的至少一个显著的部位(A,B,C,D)分别与所述第二光强度函数(7a’,7a”,7b’)中的显著的部位(B’,B”,B”’,D’,D”,D”’)关联;

产生手势数据,所述手势数据包含关于相互关联的显著的部位(B,B’,B”,B”’,D,D’,D”,D”’)的空间位置的信息和/或关于所述相互关联的显著的部位(B,B’,B”,B”’,D,D’,D”,D”’)之间的光强度的平均值的变化的信息。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,将光强度函数(7a,7a’,7a”,7b,7b’)中的以下部位确定为显著的部位(A,B,B’,B”,B”’,C,D,D’,D”,D”’):在所述部位和/或在所述部位的周围所述光强度函数的上升超过预先确定的上方的上升阈值或者低于预先确定的下方的上升阈值。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,借助人手做出所述手势。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其具有以下方法步骤:

在所述投影机(1;101)的辐射区域(3;103)中做出用于控制所述投影机(1;101)的手势;并且

借助所做出的确定的手势来控制所述投影机(1;101)。

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