[发明专利]阵列基板的制造方法及应用其制造的阵列基板在审
申请号: | 201410464908.8 | 申请日: | 2014-09-12 |
公开(公告)号: | CN104217995A | 公开(公告)日: | 2014-12-17 |
发明(设计)人: | 白金超;郭总杰;丁向前;刘晓伟;刘耀;张光明 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 制造 方法 应用 | ||
技术领域
本发明涉及显示装置技术领域,尤其涉及一种阵列基板的制造方法及应用其制造的阵列基板。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)具有高响应度、高亮度和高对比度等优点,备受人们的青睐,已成为显示装置中的主流产品。
其中,TFT-LCD显示器主要包括液晶盒,该液晶盒的下玻璃基板(阵列基板)上设置TFT,上玻璃基板(彩膜基板)上设置彩色滤光片,通过电场对液晶的作用以及TFT上信号的改变来控制液晶分子的转动方向,从而达到显示的目的。现有技术中,彩膜基板上设有支撑液晶盒的隔垫物,该隔垫物通过在彩膜基板上涂敷光刻胶,并对光刻胶进行曝光、显影等工艺,从而形成隔垫物,以隔离出注入液晶的空间。
然而,在阵列基板和彩膜基板对盒形成液晶盒的过程中,由于隔垫物需要与阵列基板表面相贴合,则存在摩擦,易产生静电,从而对液晶的控制造成干扰,影响显示效果,例如产生蓝点不良等。
发明内容
本发明提供一种阵列基板的制造方法及应用其制造的阵列基板,解决了隔垫物与阵列基板贴合时易产生静电,从而对液晶的控制造成干扰,影响显示效果的问题。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种阵列基板的制造方法,包括:步骤1,在基板上形成栅极;步骤2,在所述栅极上沉积形成栅极绝缘层,在所述栅极绝缘层上形成源、漏极以及连接所述源、漏极的有源层;步骤3,在完成步骤2的所述基板上形成钝化层,同时在所述钝化层上相应位置形成过孔;步骤4,在完成步骤3的所述基板上依次形成导电材料层和第一光刻胶层;步骤5,使用掩膜版对所述第一光刻胶层进行曝光、显影,在非像素区形成隔垫物、同时在像素区形成第一图案化光刻胶层;步骤6,沿所述第一图案化光刻胶层对所述导电材料层进行刻蚀,形成像素电极;步骤7,使用掩膜版对完成步骤6的所述基板进行曝光、显影,去除所述第一图案化光刻胶层。
具体地,所述步骤1具体包括:步骤11,在所述基板上通过金属溅射工艺形成第一金属材料层,在所述第一金属材料层上涂敷第二光刻胶层;步骤12,使用掩膜版对所述第二光刻胶层进行曝光、显影,形成第二图案化光刻胶层;步骤13,沿所述第二图案化光刻胶层对所述第一金属材料层进行刻蚀,形成所述栅极,同时形成栅线;步骤14,剥离所述第二图案化光刻胶层。
其中,所述步骤13中的刻蚀工艺为干法刻蚀或湿法刻蚀。
具体地,所述步骤2具体包括:步骤21,在所述栅极和栅线上通过气相沉积形成所述栅极绝缘层;步骤22,在所述栅极绝缘层上通过气相沉积形成有源材料层,在所述有源材料层上涂敷第三光刻胶层;步骤23,使用掩膜版对所述第三光刻胶层进行曝光、显影,形成第三图案化光刻胶层,沿所述第三图案化光刻胶层对所述有源材料层进行刻蚀,形成有源层;步骤24,剥离所述第三图案化光刻胶层;步骤25,在所述有源层上通过金属溅射工艺形成第二金属材料层,在所述第二金属材料层上涂敷第四光刻胶层;步骤26,使用掩膜版对所述第四光刻胶层进行曝光、显影,形成第四图案化光刻胶层;沿所述第四图案化光刻胶层对所述第二金属材料层进行刻蚀,形成所述源、漏极,以及与所述源极连接的数据线;步骤27,剥离所述第四图案化光刻胶层。
进一步地,所述步骤3具体包括:步骤31,在完成步骤27的所述基板上通过气相沉积形成钝化材料层,在所述钝化材料层上涂敷第五光刻胶层;步骤32,使用掩膜版对所述第五光刻胶层进行曝光、显影,形成第五图案化光刻胶层;步骤33,沿所述第五图案化光刻胶层对所述钝化材料层进行刻蚀,形成钝化层,同时在所述钝化层上相应位置形成所述过孔;步骤34,剥离所述第五图案化光刻胶层。
优选地,所述钝化层为氮化硅材质。
其中,所述步骤4具体可以为:步骤4,在完成所述步骤204的所述基板上通过气相沉积形成导电材料层,在所述导电材料层上涂敷所述第一光刻胶层。
具体地,所述导电材料层为氧化铟锡膜。
一种阵列基板,使用上述所述的阵列基板的制造方法制造而成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造