[发明专利]存储器阵列有效

专利信息
申请号: 201410465834.X 申请日: 2014-09-12
公开(公告)号: CN105469823B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 杨光军 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06;G11C16/08;G11C16/24
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 存储器 阵列
【说明书】:

发明公开了一种存储器阵列,该存储器阵列包括多个基本单元阵、字线组及位线组,每个基本单元阵包括2×2个存储单元对,字线组包括字线WL<m>、第一控制栅线CG0<m>、第二控制栅线CG1<m>,位线组包括位线BL<3k>、BL<3k+1>和BL<3k+2>,该多个基本单元阵在列行方向依次由该位线组和字线组级联,各列的基本单元阵和其他列没有关联,本发明列方向每一组存储单元和其他组存储单元没有关联,读出时只要处理本组存储单元的电流即可,译码简单,适合Native卡的开发。

技术领域

本发明涉及一种半导体技术领域,特别是涉及一种存储器阵列。

背景技术

由于Native卡(小额支付本地卡)具有应用执行速度快、安全性高的优点,其对芯片资源要求较高,闪存是Native卡片上系统COS正常运行所必须的存储体。

闪存作为一种半导体存储器,包括存储器阵列和外围电路。图1为现有技术中存储器阵列的结构示意图,图2为现有技术中存储器阵列的电路图。如图1及图2所示,其中,列方向(Y方向)的位线BL<0>、BL<1>、BL<2>、BL<3>为第二层金属层M2走线,行方向(X方向)CG0<m>、WL<m>、CG1<m>、CG0<m+1>、WL<m+1>、CG1<m+1>、CG0<m+2>、WL<m+2>、CG1<m+2>(CG0<m>、CG0<m+1>、CG0<m+2>为第一控制线,WL<m>、WL<m+1>、WL<m+2>为字线,CG1<m>、CG1<m+1>、CG1<m+2>为第二控制线)为第一层金属层M1走线,为行方向第一层金属层M1走线与存储单元Cell的电接触点,为行方向第一层金属层M1走线与第二层金属层M2走线的连接过孔(Via)。

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