[发明专利]一种无压烧结连接大功率GTO模块的方法有效
申请号: | 201410470189.0 | 申请日: | 2014-09-15 |
公开(公告)号: | CN104319241B | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 梅云辉;李万里;陆国权;李欣 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 300072 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 烧结 连接 大功率 gto 模块 方法 | ||
1.一种无压烧结连接大功率GTO模块的方法,其特征是以钛为中间金属层,利用磁控溅射设备实现钼基板表面镀银,接着通过纳米银焊膏低温无压烧结实现芯片与基板大面积互连。
2.如权利要求1所述的方法,其特征是具体步骤如下:
(1)对钼基板进行预处理,去除表面污染物,使表面清洁;
(2)进行镀膜,在钼基板上依次镀钛膜和银膜;
(3)对镀膜试样进行退火处理,随炉冷,保护气氛为高纯度≥99.99%在氮气或惰性气体氩气;
(4)使用纳米银焊膏作为互连材料,焊膏涂抹厚度为30-90um,芯片与基板的连接面积为314-1256mm2,将互连接头放在加热台或者加热炉中,实现芯片与基板的低温无压烧结互连,其升温速率为3-8℃/min,加热到250-320℃,保温5-30min;芯片与钼基板实现连接,中间的焊膏层的厚度降为15-45um。
3.如权利要求2所述的方法,其特征是所述的步骤(1)通过磁控溅射设备自带的等离子清洗装置清洗钼基板表面。
4.如权利要求2所述的方法,其特征是所述的步骤(2),通过调节溅射功率来控制镀膜的速率,调节溅射时间来控制最终膜层的厚度。
5.如权利要求2所述的方法,其特征是所述的步骤(2),镀钛是功率为20-30W,时间为10-30min。
6.如权利要求2所述的方法,其特征是所述的步骤(2),镀银功率为20-30W,时间为30-80min。
7.如权利要求2所述的方法,其特征是所述的步骤(3),退火处理温度300-900℃,时间60-240min。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造