[发明专利]镜面目标轮廓光学测量方法有效
申请号: | 201410484119.0 | 申请日: | 2014-09-22 |
公开(公告)号: | CN104266607B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 余学才;王玉杰;毛康;纪国超 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙)51227 | 代理人: | 周永宏 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 目标 轮廓 光学 测量方法 | ||
1.一种镜面目标轮廓光学测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.利用计算机软件发出脉冲调制信号对激光器进行调制,激光器输出线型光束对镜面目标进行照明;同时利用计算机软件发出触发信号,触发CCD图像传感器同步采集镜面目标表面的光带图像;
S2.关闭激光器,并利用计算机软件发出触发信号触发CCD图像传感器同步采集镜面目标表面的干扰图像;
S3.对步骤S1中的光带图像和步骤S2中的干扰图像进行反相迭加相关运算,得到镜面目标表面的净化图像;
S4.设定镜面目标面形数据阈值,选取N幅镜面目标同一表面位置的净化图像进行时域内低通滤波处理,得到镜面目标面形数据和激光光带灰度图像,并判断N是否达到镜面目标面形数据阈值;
S5.若N没有达到镜面目标面形数据阈值,则返回步骤S1;若N达到镜面目标面形数据阈值,则对步骤S4中的激光光带灰度图像分别进行中值滤波和均值滤波处理;
S6.对步骤S5中处理后的激光光带灰度图像进行二值化处理,并利用细化算法提取结构光光条中心;
S7.采用最短对角线的轮廓线拼接方法对步骤S4中的镜面目标面形数据和步骤S6中的结构光光条中心进行处理,重构镜面目标的三维表面轮廓,并利用VTK软件系统显示镜面目标三维轮廓图像。
2.如权利要求1所述的镜面目标轮廓光学测量方法,其特征在于:所述光带图像包括镜面目标表面散射到CCD图像传感器的激光信号和镜面目标表面反射到CCD图像传感器的光噪声信号。
3.如权利要求1所述的镜面目标轮廓光学测量方法,其特征在于:所述干扰图像包括镜面目标表面反射到CCD图像传感器的光噪声信号。
4.如权利要求1所述的镜面目标轮廓光学测量方法,其特征在于:所述净化图像包括镜面目标表面散射到CCD图像传感器的激光信号。
5.如权利要求1所述的镜面目标轮廓光学测量方法,其特征在于:所述反相迭加相关运算公式为:
Gn(i,j)=GL(i,j)cos(φL)+GB(i,j)cos(φB)
其中,φB-φL=π,GL(i,j)为光带图像灰度,GB(i,j)为干扰图像灰度,Gn(i,j)为净化图像灰度,φB为脉冲调制信号中干扰图像的调制相位,φL为脉冲调制信号中光带图像的调制相位。
6.一种镜面目标轮廓光学测量系统,其特征在于:包括计算机系统、采集单元和光源单元;所述采集单元包括三台CCD像机,三台CCD像机分别与计算机系统有线连接;所述光源单元包括三台激光器,三台激光器分别与计算机系统有线连接。
7.一种镜面目标轮廓光学测量系统,其特征在于:所述采集单元三台激光器发出的线型激光位于同一平面内。
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