[发明专利]时域反射仪去嵌入探头

权利要求书

1.一种去嵌入探头，包括：

输入，其被配置为连接到测试下装置；

存储器；

信号发生器，其被连接到所述输入，所述信号发生器被配置为生成测试信号；以及

控制器，其被连接到所述信号发生器并被配置为控制所述信号发生器。

2.如权利要求1所述的去嵌入探头，其中所述去嵌入探头的输入阻抗高于所述测试下装置的特性阻抗。

3.如权利要求2所述的去嵌入探头，其中所述去嵌入探头不包括任何可切换负载部件。

4.如权利要求2所述的去嵌入探头，所述控制器进一步被配置为将所述信号发生器接通和关断。

5.如权利要求2所述的去嵌入探头，所述控制器进一步被配置为调整所述测试信号的幅度。

6.如权利要求2所述的去嵌入探头，其中所述去嵌入探头包括被配置为连接到测试下装置的两个输入。

7.一种测试和测量系统，包括：

权利要求2的去嵌入探头；以及

测试和测量系统，其包括：

　　处理器，其被连接到所述去嵌入探头的所述控制器，所述处理器被配置为提供指令给所述控制器，以及

　　测试和测量输入，其用以接收来自所述去嵌入探头的输出。

8.如权利要求7所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量系统进一步包括用户接口，其被配置为接受所述测试信号的期望幅度的指示。

9.如权利要求7所述的测试和测量系统，其中在所述测试和测量输入处基于来自测试下装置的接收信号的幅度，所述处理器自动选择所述测试信号的幅度，并且其中所述控制器进一步被配置为基于所述选择调整所述测试信号的幅度。

10.如权利要求7所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量仪器的处理器从所述测试和测量仪器接收来自所述测试下装置的输出，并且计算所述测试下装置的源阻抗。

11.如权利要求7所述的测试和测量系统，其中所述测试和测量仪器的处理器接收来自所述测试下装置的输出，并在所述去嵌入探头连接到所述测试下装置之前计算所述测试下装置上出现的未加载信号。

12.一种用于在活动的测试下装置内执行测试信号的电压测量的方法，包括：

将测试信号注入到所述测试下装置的节点中；以及

将与所述测试下装置的信号有关的第一电压测量从与所述测试信号有关的第二电压测量分离。

13.如权利要求12所述的方法，其中相比于来自所述测试下装置的信号，随机注入所述测试信号，以及

其中，将与所述测试下装置的信号有关的第一电压测量从与所述测试信号有关的第二电压测量分离包括：

　　每次注入所述测试信号时触发采集，以及

　　对所述采集求平均以确定与所述测试信号有关的第二电压测量。

14.如权利要求12所述的方法，其中在对于来自所述测试下装置的信号固定的时间注入所述测试信号，以及 

其中，将与所述测试下装置的信号有关的第一电压测量从与所述测试信号有关的第二电压测量分离包括：

　　当所述测试信号接通时获取采集，

　　当所述测试信号断开时获取采集，以及

　　从当所述测试信号接通时的采集减去当所述测试信号断开时的采集，以确定与所述测试信号有关的第二电压测量。