[发明专利]时域反射仪去嵌入探头

说明书

技术领域

所公开的技术一般涉及信号采集系统，并且更特别地，涉及一种具有内部信号发生器的去嵌入（de-embed）探头，用于减少由于测试下装置的探头尖端加载而引起的测量误差。

背景技术

如编号7460983的题为“信号分析系统和校准方法”的美国专利、编号7414411的题为“用于多信号探头的信号分析系统及校准方法”的美国专利、编号7408363的题为“用于利用任意负载处理采集信号采样的信号分析系统及校准方法”的美国专利以及编号7405575的题为“用于测量测试下装置的阻抗的信号分析系统及校准方法”的美国专利中所述的去嵌入探头，将其中的每一个通过引用全部并入本文中，这些去嵌入探头使用探头内部的跨越探头尖端的切换负载来进行测量。在制造时间测量去嵌入探头的S参数，并且将其存储在探头内部的S参数存储器中。然后用户将探头连接到测试下装置，并按下校准按钮。该范围取得两个或三个被平均的采集，每一个具有跨越探头尖端切换的不同去嵌入负载。

在采集之后，示波器可以将测试下装置的阻抗作为频率的函数进行计算，并且还在测试下装置处提供波形的完全去嵌入视图，如同探头和示波器从未被连接一样。这也可以通过将以上所讨论的方法结合到矢量网络分析仪中来完成，该矢量网络分析器将两个去嵌入探头固定设备与信号源和装置一起使用以操作为使用两个去嵌入探头的矢量网络分析仪，如编号14/267,697的、标题为“使用去嵌入探头的双端口矢量网络分析仪”的美国专利申请中所讨论的那样，其通过引用全部并入本文中。

源阻抗，作为被探测时域信号的频率的函数，可以由具有各种负载部件的去嵌入探头来确定，例如编号为14/261,834的、题为切换负载时域反射仪去嵌入探头的美国专利申请中所描述的去嵌入探头，其通过引用全部并入本文中。通过在去嵌入探头内的已知的负载条件下观察测试下装置的信号来确定源阻抗。

编号14/267,697的、标题为使用去嵌入探头的双端口系统网络分析的美国专利申请，讨论了如何从具有外部信号发生器和两个去嵌入探头的测试下装置确定S参数。

然而，所有这些切换负载去嵌入方法需要来自测试下装置（DUT）或外部信号发生器的测试信号来以可重复的方式激励系统跨越所有感兴趣的频率。在某些情况下，DUT信号可能没有合适的频率内容或者是可重复的，或者用户可能希望测量处于静止状态下的DUT阻抗。

发明内容

所需要的是具有内部信号发生器的去嵌入探头，而没有所需要的任何切换负载部件。所公开的技术的某些实施例包括一种去嵌入探头，其包括被配置为连接到测试下装置的两个输入、存储器、连接到该两个输入的信号发生器，该信号发生器被配置为生成测试信号，以及控制器，其被连接到该信号发生器并被配置为控制该信号发生器。

所公开技术的某些实施例还包括在测试和测量系统内使用以上描述的去嵌入探头。该测试和测量系统还包括测试和测量仪器，该测试和测量仪器包括连接到去嵌入探头的控制器的处理器以及测试和测量输入，该处理器被配置为提供指令给控制器，以及该测试和测量输入用以接收来自去嵌入探头的输出。

所公开技术的某些其他特定实施例包括一种用于在活动的测试下装置内执行测试信号的电压测量的方法。该方法包括将测试信号注入到测试下装置的节点中，以及将与测试下装置的信号有关的第一电压测量从与测试信号有关的第二电压测量分离。

附图说明

图1图示了所公开技术的去嵌入探头的框图。

图2图示了使用图1的去嵌入探头的测试和测量系统。

图3-5图示了根据所公开技术的其他实施例的去嵌入探头的框图。

具体实施方式

在不一定按比例绘制的附图中，所公开的系统和方法的相同或相应的元素由相同的附图标记来表示。

所公开的技术包括具有位于探头内的信号发生器102的去嵌入探头100。不同于编号14/261,834，标题为切换负载时域反射仪去嵌入探头的美国申请，该去嵌入探头只包含信号发生器，并且不包含任何切换负载。去嵌入探头100可以是具有标准探头尖端的标准探头。去嵌入探头100也可以被实现为插入式（plug-in）模块。去嵌入探头可以与任何数目的输入连接一起使用，例如但不限于焊入式（solder-in）探头尖端。

去嵌入探头100包括连接到输出118的放大器104，以及在去嵌入探头中发现的典型电路，并如上述专利申请中所讨论的那样。典型电路未在图1中被示出。