[发明专利]键槽基准块以及内孔单双键槽对称度检测仪

权利要求书

1.一种键槽基准块，其特征在于，包括一个“口”字型键槽定位块，所述键槽定位块左右两侧分别向下延伸出中心对称分布的定位侧板，该定位侧板形成匹配被测零件键槽大小的凸型键，且所述定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过键槽定位块前内壁与后内壁之间的距离，所述键槽定位块前后下端面分别对称设有四个凸出的定位钢球，所述定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过被测零件键槽设计宽度的下限值，所述两块定位侧板之间的距离不超过被测零件键槽设计长度的下限值；

所述键槽定位块左右两侧设有若干对称分布的减重孔，所述两块定位侧板中部设有下连接部，所述键槽定位块左右侧之间设有上连接部，该上连接部位于键槽定位块上端面的对称线位置。

2.一种内孔单双键槽对称度检测仪，其特征在于，包括权利要求1所述的键槽基准块，还包括表座、表杆组件和百分表，所述表座固定在键槽基准块上，所述表杆组件一端连接表座，另一端安装百分表。

3.根据权利要求2所述的内孔单双键槽对称度检测仪，其特征在于，所述表座具有平坦基准面，该基准面与键槽定位块之间能够磁性吸附。

4.根据权利要求2或3所述的内孔单双键槽对称度检测仪，其特征在于，所述表杆组件包括第一表杆、第二表杆和第三表杆，所述第三表杆通过转轴铰接在所述第一表杆与第二表杆之间，所述第一表杆能够相对于表座转动，所述第二表杆通过表卡固定百分表。