[发明专利]键槽基准块以及内孔单双键槽对称度检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种计量设备，具体来说，涉及匹配测量内孔单双键槽对称度、垂直度的键槽基准块，以及检测内孔单双键槽对称度的检测仪。

背景技术

轴键槽的对称度测量广泛用于电机、机床、汽车制造及一切用键槽连接的轴类零件，键槽对称度的好坏直接影响机械装配的效果。若键槽的宽度尺寸加工得非常正确，但键槽的对称度没有达到形位公差的要求，这时候当带键的轴和带键槽的孔装配时同样会发生装配不进的情况，因此，机械制造行业中对双键槽对称度要求非常高。

现有技术中，测量键槽对称度、垂直度（直线度）时，一般在加工设备或三坐标上测量，这对于检验人员者来说操作不方便、劳动强度大，检测设备成本高、生产效率低。

公告号为CN202452943的专利文献（申请日为2012年3月8日）公开了一种内孔双键槽对称度检具，用于检测内圆双键槽的对称度，具体为，先以键槽二个对称工作面为基准测量至内孔最大长度值，然后旋转180°，再测量其长度进行比较后判断对称度误差。但是该工具无法确定内孔单键槽对称度是否合格，比如无法检测单个键槽相对于被测零件的轴心线对称度误差（即键槽的中轴线与零件径向轴向不重合），及垂直度误差值（即键槽工作面与轴向不平行），因此在内孔单键槽不合格的情况下，直接测量内孔双键槽对称度是不正确的。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提供一种结构简单、操作简便、能够检测内孔单键槽加工精度的键槽基准块。

为实现上述技术目的，本发明采用的技术方案如下：

一种键槽基准块，包括一个“口”字型键槽定位块，所述键槽定位块左右两侧分别向下延伸出中心对称分布的定位侧板，该定位侧板形成匹配被测零件键槽大小的凸型键，且所述定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过键槽定位块前内壁与后内壁之间的距离，所述键槽定位块前后下端面分别对称设有至少两个凸出的定位钢球，所述定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过被测零件键槽设计宽度的下限值，所述两块定位侧板之间的距离不超过被测零件键槽设计长度的下限值。

采用上述技术方案的键槽基准块可以按如下方法检测内孔键槽是否合格，首先将两定位侧板形成的凸型键插入被测零件的键槽，保证键槽定位块上的轴向定位钢球与被测零件内孔孔壁相切，由于凸型键的的长宽不超过被测零件键槽设计大小的下限值，因此当内孔键槽加工状况较好的情况下，凸型键容易插入键槽内，如果插不进或者不能完全插进则说明内孔键槽槽宽、槽深、键槽工作面或键槽根部倒角尺寸存在不合格的情况；如果凸型键前后两侧与被测零件键槽两工作面不平行，则说明键槽偏移中心，或是键槽与端面不垂直。

进一步限定，所述键槽定位块左右两侧开设有若干对称分布的减重孔。减重孔的设置可以减轻键槽基准块的重量，操作更加轻便。

进一步限定，所述两块定位侧板中部设有下连接部，所述键槽定位块左右侧之间设有上连接部，该上连接部位于键槽定位块上端面的对称线位置。由于键槽基准块中心为空心，随着使用时间增长，键槽定位块容易变形影响其标准尺寸，上连接和下连接部的设置可以确保“口”字型的键槽定位块结构不易变形，从而提高键槽基准块的强度。

本发明还提供了一种内孔单双键槽对称度检测仪，它包括键槽基准块、还包括表座、表杆组件和百分表，所述表座固定在键槽基准块上，所述表杆组件一端连接表座，另一端固定安装百分表。

采用上述技术方案的检测仪可以检测内孔单键槽和内孔双键槽是否合格。当内孔单键槽与键槽基准块的偏差较小时，单独通过键槽基准块很难直观地检测出被测零件的键槽加工是否合格，在增加了表座、表杆组件和百分表后则可以克服这种较小偏差的检测问题。在检测内孔单键槽时，先将键槽基准块插入内孔键槽中分别紧靠左端面和右端面，通过百分表检测出的间隙量可判断内孔单键槽的槽宽、槽深是否合格；将键槽基准块沿零件轴向滑动可以检测单键槽垂直度；将键槽基准块旋转180°分别两次测量内孔单键槽左右端面，可以检测出内孔单键槽对称度误差值；检测内孔双键槽时，在内孔键槽内沿零件轴向测量二个对称键槽的左工作面，旋转180°后测量二个对称键槽的右工作面，可以判断内孔双键槽的对称度误差。

进一步限定，所述表座具有平坦基准面，该基准面与键槽定位块之间能够磁性吸附。上述限定使得表座与键槽基准块之间的固定方式更灵活，携带更为方便。

进一步限定，所述表杆组件包括第一表杆、第二表杆和第三表杆，所述第三表杆通过转轴铰接在所述第一表杆与第二表杆之间，所述第一表杆能够相对于表座转动，所述第二表杆通过表卡固定百分表。上述限定的表杆组件使得百分表的调节和测量更加方便。