[发明专利]测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统

权利要求书

1.一种测试扁平面板显示器的方法，所述扁平面板显示器包括像素阵列及经配置以将信号提供到所述像素的外围电路，其中所述外围电路包含多个周期性安置的单位单元，所述方法包括：

将至少一个测试信号施加到所述外围电路；

获取所述外围电路的一或多个电压图像；以及

基于所获取的电压图像而检测所述外围电路中的缺陷，

其中每一电压图像为所述单位单元中的一者的电压图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括确定所述周期性安置的单位单元的周期。

3.根据权利要求2所述的方法，其中基于所述一或多个电压图像而确定所述周期。

4.根据权利要求3所述的方法，其中基于所述一或多个电压图像的快速傅里叶变换而确定所述周期。

5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括将每一电压图像与参考进行比较，其中检测所述缺陷包括检测所述电压图像中的一或多者与所述参考之间的差异。

6.根据权利要求5所述的方法，其进一步包括确定所述参考。

7.根据权利要求6所述的方法，其中基于所述电压图像而确定所述参考。

8.根据权利要求7所述的方法，其中基于所述电压图像的平均值而确定所述参考。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述外围电路包括：

多个移位寄存器；以及

多个接口连接，其安置于所述多个移位寄存器与所述像素阵列之间。

10.一种经配置以测试扁平面板显示器的系统，所述扁平面板显示器包括像素阵列及经配置以将信号提供到所述像素的外围电路，其中所述外围电路包含多个周期性安置的单位单元，所述系统包括：

探头组合件，其经配置以将至少一个测试信号施加到所述外围电路；

电压成像系统，其经配置以获取所述外围电路的一或多个电压图像；以及

处理器，其经配置以基于所获取的电压图像而检测所述外围电路中的缺陷，

其中每一电压图像为所述单位单元中的一者的电压图像。

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述处理器进一步经配置以确定所述周期性安置的单位单元的周期。

12.根据权利要求11所述的系统，其中基于所述一或多个电压图像而确定所述周期。

13.根据权利要求12所述的系统，其中基于所述一或多个电压图像的快速傅里叶变换而确定所述周期。

14.根据权利要求10所述的系统，其中所述处理器进一步经配置以将每一电压图像与参考进行比较，且其中检测所述缺陷包括检测所述电压图像中的一或多者与所述参考之间的差异。

15.根据权利要求14所述的系统，其中所述处理器进一步经配置以确定所述参考。

16.根据权利要求15所述的系统，其中基于所述电压图像而确定所述参考。

17.根据权利要求16所述的系统，其中基于所述电压图像的平均值而确定所述参考。

18.根据权利要求10所述的系统，其中所述外围电路包括：

多个移位寄存器；以及

多个接口连接，其安置于所述多个移位寄存器与所述像素阵列之间。