[发明专利]测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统

说明书

本申请案涉及一种测试扁平面板显示器的方法及一种经配置以测试扁平面板显示器的系统。本发明揭示一种测试扁平面板显示器的方法，所述扁平面板显示器包含像素阵列及经配置以将信号提供到所述像素的外围电路。所述方法包含：将至少一个测试信号施加到所述外围电路；获取所述外围电路的一或多个电压图像；及基于所述所获取电压图像而检测所述外围电路中的缺陷。

相关申请案交叉参考

本申请案主张2013年10月9日提出申请的第61/888,731号美国临时申请案的权益，且与2006年11月14日提出申请的共同转让的第7,714,589号美国专利相关，第7,714,589号美国专利主张对2005年11月15日提出申请的共同转让的第60/737,090号美国临时申请案的优先权，所有各案的内容以全文引用的方式并入本文中。

技术领域

本发明大体来说涉及在液晶、有机发光二极管及相关显示器中使用的薄膜晶体管(TFT)阵列的检验，且更具体来说涉及包含集成驱动电路的TFT阵列的检验。

背景技术

当在上部彩色滤光器与下部TFT背板之间注射液晶(LC)材料时，会出现与液晶显示器(LCD)面板相关联的制造成本的显著部分。因此，在此制造步骤之前识别并校正TFT背板(下文中也称为“面板”)中的任何缺陷为有用的。同样地，当在TFT背板上沉积有机发光二极管(OLED)材料时，会出现与OLED显示器相关联的制造成本的显著部分。在沉积LC或OLED材料之前检验LCD或OLED面板的问题是在无LC或OLED材料的情况下，显示器为不起作用的且不产生用于检验的图像。在沉积LC或OLED材料之前，当通过外部电源驱动时，在给定像素处存在的仅有信号为由所述像素的电极上的电压产生的电场。测试面板上的阵列的技术通常利用像素电极的电性质，例如随晶体管栅极或数据线上的改变的驱动电压而变的电场或像素电压。

举例来说，由光子动力学公司(Photon Dynamics,Inc.，PDI)设计的阵列面板测试器/如由第4,983,911号美国专利描述的奥宝(Orbotech)的Voltage光学系统(VIOS)采用电光换能器来将受测试装置上的电场变换成由VIOS测试头中的光学传感器记录的光学信息。在将LC材料注射到面板中或将OLED材料沉积到TFT背板上之前，面板测试机器(也称为模式产生器)使用到面板外围上的垫的机械触点来电驱动面板以便结合VIOS检测器驱动用于检验像素阵列的信号，所述检测器检测与像素阵列中的信号相关联的电场。

与具有接近面板制造工艺的结束而附接到面板的单独栅极驱动器IC的显示器相比，大部分的现代液晶显示器(LCD)及有机发光二极管(OLED)显示面板并入有作为TFT面板制作工艺的部分制作的集成栅极驱动(IGD)电路。IGD电路通常形成于面板上的有源像素阵列区域的外围中。相对于具有外部突片接合栅极驱动IC的显示器相比，IGD技术降低成本，减小边框大小及重量且改进显示器的稳健性。然而，面板测试一直主要针对于使阵列区而非IGD电路区域成像。

因此，需要一种较好的方法来除有源阵列区域以外还检测IGD电路中的缺陷以便确保面板在LC材料注射或OLED材料沉积之前的恰当功能性以最大化生产成品率且降低成本。

可参考以下详细描述及附图来获得对本发明的实施例的性质及优点的更好理解。

发明内容

一个发明性方面为一种测试扁平面板显示器的方法，所述扁平面板显示器包含像素阵列及经配置以将信号提供到所述像素的外围电路。所述方法包含：将至少一个测试信号施加到所述外围电路；获取所述外围电路的一或多个电压图像；及基于所述所获取电压图像而检测所述外围电路中的缺陷。