[发明专利]基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及复合绝缘子的检测技术领域，尤其涉及一种基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法。

背景技术

复合绝缘子是由玻璃纤维树脂的芯棒、合成材料的护套、伞裙和两端的连接金具组成的绝缘子，由于其重量轻、强度高、耐污闪性能强、制造维护方便等众多优点而在电力系统中得到了广泛的应用。为了不断改进复合绝缘子的工艺，提高它的质量，需要对复合绝缘子的各部分组件进行鉴定实验，以确定最优的绝缘子设计方案与材料组合。

标准IEC6227-2005即标称电压大于1000V的室内外用聚合绝缘子定义、实验方法和验收准则，收录了绝大部分常见的针对1000V以上绝缘子质量的鉴定实验，其中，仅有三种可以鉴定复合绝缘子交界面质量的实验方法：1、肉眼观察法。通过肉眼直接观测复合绝缘子交界面的缺陷如护套、伞裙、金具等部位有无开裂，有无电蚀损、粉化、漏电痕迹等。2、陡波实验。实验方法：将复合绝缘子在盐水中水煮后，对其施加冲击电压，观察绝缘子的放电波形是否存在畸变，以及是否出现击穿现象，从而判断绝缘子交界面的质量。3、工频干耐受实验。实验方法：将复合绝缘子在盐水中水煮后，对其施加30分钟80％的闪络电压，在温升是不超过10摄氏度时，观察绝缘子的温度变化，并依此判断绝缘子交界面的质量。

但是，上述三种鉴定复合绝缘子交界面质量的实验方法均不能鉴别护套与芯棒交界面的脱粘类缺陷，其中肉眼观察法通常仅针对于护套材料发生老化，例如粉化，开裂，而对于交界面缺陷，尤其是早起交界面缺陷无效果。而陡波实验漏检率极高，多地研究者的共同研究结果表明，即使施加电压的陡度超过GB/T 19519-2004及DL 810-2002的规定，仍不能将部分交界面存在缺陷的绝缘子检出。至于工频干耐受试验，则不是针对内部交界面缺陷。因此有必要提出一种新的针对高压复合绝缘子的交界面缺陷检验方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法，能够有效地检验出复合绝缘子的各种交界面缺陷。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的。

一种基于水扩散与解剖法的复合绝缘子交界面缺陷检测方法，包括步骤：

(1)从待检测的同一支复合绝缘子上截取多支样品，并记录在截取前各样品上的明显老化现象；

(2)将各样品分别放入水煮容器中进行水煮预老化处理；

(3)对各样品进行加压试验，记录加压过程中各样品的泄漏电流值以及局部异常温升现象；

(4)对水煮后的各样品进行解剖并沿径向拉扯其伞裙，使得各样品的护套与芯棒脱离或伞裙与护套被撕裂，记录各样品的芯棒表面硅橡胶材料的残余量；

(5)根据记录结果，按照预定的验收标准对各样品进行验收，若其中有任一支样品不符合验收标准，则判定所述复合绝缘子的交界面存在缺陷。

优选地，所述步骤(1)中，从待检测的复合绝缘子上截取6支样品，样品位置分别位于绝缘子高压侧、中压侧与低压侧，每部位截取相邻2支，样品长度为30mm。

优选地，所述绝缘子高压侧位置距高压金具不超过2个伞裙单元，所述中压侧与低压侧位置距地不超过2个伞裙单元。

优选地，所述步骤(1)中还包括：在截取各样品后，应用细砂纸研磨各样品的界面以及界面边缘。

优选地，所述步骤(2)中，对于护套厚度小于等于5mm的样品，其水煮时间为100±0.5h；对于厚度大于5mm的样品，其水煮时间为200h。

优选地，所述步骤(2)中，在对各样品进行水煮时采用NacL浓度0.1％的去离子水。

优选地，所述步骤(2)中还包括：在对各样品进行水煮预老化后，取出各样品并将其在常温去离子水中浸泡15分钟后用滤纸将水吸干。

优选地，所述步骤(3)中，在对各样品进行加压试验过程中，起始电压为1kV，升压速度为每秒1kV，直至实验电压达到12kV后维持该电压在2分钟内不变。

优选地，所述步骤(4)中，在对各样品解剖过程中，若所述复合绝缘子为整体注射成型，则以合膜缝为切割线来划开样品的伞裙和护套；若所述复合绝缘子为挤包穿伞成型，则以任意一条轴向直线为切割线来划开样品的伞裙和护套，划开深度直至其芯棒但不损伤芯棒。

优选地，所述步骤(5)中，所述验收标准具体为：

a、在截取样品前，样品表面无明显老化现象；

b、对于水煮后的样品，在加压过程中其泄漏电流值与电压成线性增长；

c、对于水煮后的样品，在加压过程中其泄漏电流不超过1mA；