[发明专利]一种微波器件测试用压紧装置在审
| 申请号： | 201410553420.2 | 申请日： | 2014-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN104267220A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 默江辉;杨中月;李亮;崔玉兴;付兴昌;蔡树军;杨克武 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 米文智 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 微波 器件 测试 压紧 装置 | ||
【权利要求书】：
1. 一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于包括压块（1）和通过压块（1）上的螺钉孔（6）能与测试平台紧固的螺钉（3），所述压块（1）由绝缘材料构成，压块（1）底面设有微波器件端脚压紧凸起（4）和微波器件适配的器件凹槽（5）。
2.根据权利要求1所述的一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于所述的压块（1）上的孔和螺钉（3）均有2个，位于压块（1）的两端部，所述的凸起（4）有2个，位于器件凹槽（5）的两侧。
3. 根据权利要求1或2所述的一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于所述压块（1）上面还设有紧固件（2），所述螺钉（3）依次穿过紧固件（2）和压块（1）。
4. 根据权利要求3所述的一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于所述紧固件（2）所用材料为黄铜。
5. 根据权利要求3所述的一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于所述压块（1）上表面和紧固件（2）下表面平整。
6.根据权利要求1所述的一种微波器件测试用压紧装置，其特征在于所述绝缘材料为聚四氟乙烯。
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