[发明专利]提高并联功率MOSFET均流性能的方法及其实现装置在审
申请号: | 201410571606.0 | 申请日: | 2014-10-23 |
公开(公告)号: | CN105591527A | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | 徐超;吴永红;姜祝;武东健;赵一阳 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | H02M1/00 | 分类号: | H02M1/00 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 王朋 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 并联 功率 mosfet 性能 方法 及其 实现 装置 | ||
技术领域
本发明属于电源技术领域,具体涉及一种提高并联功率MOSFET 均流性能的方法及其实现装置。
背景技术
由于制造工艺所限,目前很难生产出高耐压大电流的MOSFET器 件,市场上的MOSFET功率普遍较小,当电路要求的电流容量超过单 只功率MOSFET的电流容量时,可以将多个MOSFET管并联来增大电 流容量或功率。由于MOSFET的漏电流具有负的温度系数,当多个 MOSFET并联时无须使用平衡各器件电流的限流电阻和温度补偿电 路,因为它们具有自动均流和均温作用。但其不足之处是:由于 MOSFET自身参数及电路参数不匹配,会导致器件并联应用时出现电 流分配不均的问题,严重时,会使有关的并联功率MOSFET过载而损 坏。即使可以采用一些措施来达到均流的目的,例如尽量选择参数一致 的元件进行并联,为器件安装位置应尽量做到完全对称,所有连线必须 一样长,且尽量加粗和缩短等。但是这些措施的可操作性较差,稍有出 入就会影响实际的使用效果,甚至使MOSFET损坏。
发明内容
本发明的目的在于解决现有MOSFET电路各支路因参数不一致等 问题造成的电流过大而烧坏器件的问题,提供一种能够提高多路并联功 率MOSFET均流性能的提高并联功率MOSFET均流性能的方法及其实 现装置。
本发明是这样实现的:
一种提高并联功率MOSFET均流性能的方法,包括如下步骤:
第一步:计算需并联的串联电路的路数;
第二步:各并联支路增加MOSFET使所有MOSFET构成串流关系;
第三步:使用关联的驱动电路分别驱动串联的功率MOSFET。
如上所述的计算需并联的串联电路的路数步骤,根据具体的输出电 流值计算需并联的串联电路的路数;
并联路数n的计算公式为:
n=I/i;
式中,i为各支路设计电流值,I为电路总的输出电流值。
如上所述的计算需并联的串联电路的路数步骤,电路总的输出电 流值I=16A,各支路设计电流值i=2A,并联路数n=8。
如上所述的各并联支路增加MOSFET使所有MOSFET构成串流关 系步骤,根据第一步计算得到的路数,在各并联支路中再串入一个同型 号的功率MOSFET,使原功率MOSFET和新加入的MOSFET构成串 流关系。
如上所述的使用关联的驱动电路分别驱动串联的功率MOSFET步 骤,使用相关联的驱动电路分别驱动两个串联的功率MOSFET。
如上所述的使用关联的驱动电路分别驱动串联的功率MOSFET步 骤,驱动电路保证两个串联的功率MOSFET的驱动信号同步。
如上所述的驱动电路采用电阻分压形式。
一种使用如上所述的一种提高并联功率MOSFET均流性能的方法 实现的装置,其特征在于:包括8条并联支路和驱动电路,每条并联支 路包括两个串联的同型号的功率MOSFET,驱动电路与两个串联的同 型号的功率MOSFET并联,分别驱动两个串联的同型号的功率 MOSFET,驱动电路使两个串联的功率MOSFET的驱动信号同步;驱 动电路由串联的阻值分别为100K欧姆和200K欧姆的分压电阻组成,8 个并联支路中的各有一个功率MOSFET的栅极并联后连接在串联两个 分压电阻的电路上,该8个功率MOSFET的漏极与阻值为100K的分 压电阻的一端并联在80V电源的输出端,该8个功率MOSFET的源极 分别与8个并联支路中的另一个功率MOSFET的漏极连接;8个并联 支路中的另一个功率MOSFET的栅极与阻值为200K的分压电阻的一 端并联在53V电源的输出端,8个并联支路中的另一个功率MOSFET 的源极相连接。
如上所述的8个并联支路中的另一个功率MOSFET的栅极与阻值 为200K的分压电阻的一端并联在59V或61V电源的输出端。
本发明的有益效果在于:
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