[发明专利]阵列测试装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试玻璃基板技术领域，特别是涉及一种阵列测试装置和一种根据该阵列测试装置的阵列测试方法。

背景技术

在一些应用领域里，比如平板显示器中，我们需要在玻璃上设置排布一些导电材料或者器件，为了测试这些导电材料和器件是否有缺陷，一般是通过例如检测栅极线或数据线是否断线或者检测像素单元是否显色不佳来实现的。

典型地，使用具有多个探针的阵列测试装置来测试玻璃基板。通过将探针置于对应玻璃基板上的电极的位置，将探针与电极接触，然后将电信号通过探针施加至电极。

传统的通用型探针都是根据产品测试板的位置预先设计好的，排布有单排/多排、连续/不连续的探针。阵列测试装置通常会借助探针的排列完成对玻璃基板的检测，在检测过程中，每一片玻璃基本上相对于探针都是独立的，玻璃位置的微偏移、探针本身的微变形或者产品测试点位的异常等等都会降低扎针成功率，需要花费大量的人力和时间重新对位，中断正常的生产，影响产能。并且对于不同的产品，需要重新设计替换相应的探针矩阵，不可重复使用。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种阵列测试装置和方法，可以减少探针和玻璃基板间的扎针异常频率，提高生产的连续性。

一种阵列测试装置，包括：

探针矩阵，所述探针矩阵上设置有多个探针，所述多个探针均匀连续排列于所述探针矩阵上，所述探针具有地址矩阵信息并由电磁开关独立控制；

地址矩阵系统，用于存储所述探针的地址矩阵信息；

电压控制系统，用于根据所述探针的地址矩阵信息控制所述探针；

运算组件，用于设定探针的选定规则。

在其中一个实施例中，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。

在其中一个实施例中，所述运算组件选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。

在其中一个实施例中，所述运算组件具有记忆功能，用以储存每次选定的探针地址矩阵信息。

在其中一个实施例中，所述运算组件为通过计算机软件建模。

根据上述阵列测试装置的阵列测试方法，包括以下步骤：

S1.根据基板测试板，在探针矩阵上划分多个探针子矩阵；S2.选定一个所述探针子矩阵，通过所述探针的地址矩阵信息将所述探针子矩阵中的每根探针由电磁开关控制处于扎针状态；

S3.接收所有处于扎针状态中导通的探针的地址矩阵信息，并选定一根或多根所述导通的探针；

S4.解除非选定的探针的扎针状态；

S5.重复上述步骤S2～S4，直至选定所有用于测试的探针；

S6.将电压通过所有选定的探针导入，进行测试。

在其中一个实施例中，所述步骤S1中的探针子矩阵为整个探针矩阵。

在其中一个实施例中，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针的几何中心的那根探针。

在其中一个实施例中，所述步骤S3中选定的探针为所有导通的探针中的任意一根或多根探针。

上述阵列测试方法和阵列测试装置，可以有效的降低扎针异常率，提高检测效率，提高生产的连续性，进而减少设备运营成本，并且适用性强。

附图说明

图1为本发明阵列测试装置的一个实施例的阵列测试装置的系统运行控制结构图；

图2为现有技术中通用型探针矩阵的底视图示意图；

图3为现有技术中通用型探针矩阵的侧视图；

图4为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵的局部底视图；

图5为本发明阵列测试装置的一个实施例的探针矩阵中单根探针的结构示意图；

图6为本发明阵列测试装置的一个实施例的选中的探针子矩阵的示意图；

图7为本发明阵列测试装置的一个实施例的选定的探针的示意图；

图8为本发明阵列测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。