[发明专利]一种LED数码管的光电检测系统及其方法在审
申请号: | 201410572662.6 | 申请日: | 2014-10-23 |
公开(公告)号: | CN104344944A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 蔡晓恺 | 申请(专利权)人: | 上海维锐智能科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01R31/26 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 高园园 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 数码管 光电 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种LED数码管的光电检测系统,其特征在于:包括光学探测模块、暗箱、可切换工装板、工装板驱动模块、LED切换驱动模块、主控模块、图像处理模块和电性能测试模块;
所述光学探测系统设置在所述暗箱内,包括相机、光学镜头和光源,用于获取点亮后的被测LED数码管的图像信息;
所述暗箱设置在所述可切换工装板上,用于为所述光学探测系统提供工作环境;
所述可切换工装板置于所述暗箱的下方和所述工装板驱动模块的上方,用于可切换地放置被测LED数码管;
所述工装板驱动模块与所述主控模块相连,用于在所述主控模块的控制下驱动所述可切换工装板进行位置切换;
所述LED切换驱动模块与所述主控模块相连,用于在所述主控模块的控制下驱动点亮所述暗箱正对的工作位上的被测LED数码管;
所述图像处理模块与所述光学探测系统和所述主控模块相连,用于对所述光学探测系统所获取的点亮后的LED数码管的图像信息进行处理,获取被测LED数码管的光学性能信息;
所述电性能测试模块与所述主控模块相连,用于获取被测LED数码管的电学性能信息;
所述主控模块用于根据所述图像处理模块和所述电性能测试模块的测试结果,判断被测LED数码管是否为良品。
2.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述相机采用CCD相机或CMOS相机。
3.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述可切换工装板为长条形,左右两侧分别设置有测试工作位,每个工作位上用于放置若干个被测LED数码管,且两侧的工作位能够实现左右切换。
4.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述可切换工装板为转盘式,在转盘上每隔一定角度设置有测试工作位,每个工作位用于放置若干个被测LED数码管,通过转动转盘能够实现工作位的切换。
5.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述工装板驱动模块采用电机驱动,或者采用气缸驱动,或者直接通过人工进行推动。
6.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述光学性能信息包括被测LED数码管发光的亮度均匀性、色度均匀性、亮度分档、色度分档、是否漏光、是否有杂质以及是外壳否有划痕。
7.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述电学性能信息包括被测LED数码管的正向电压值、反向漏电值、开路信息、短路信息。
8.根据权利要求1所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:还包括显示模块,与所述主控模块相连,用于显示被测LED数码管是否为良品。
9.根据权利要求8所述的LED数码管的光电检测系统,其特征在于:所述显示模块采用数码管或者指示灯。
10.一种根据权利要求1-9之一所述LED数码管的光电检测系统的光电检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤S1、在处于暗箱外的可切换工装板上的工作位上放置被测LED数码管;
步骤S2、启动工装板驱动模块将可切换工装板上放置有被测LED数码管的工作位移动到暗箱内;
步骤S3、LED切换驱动模块在主控模块的控制下将LED数码管测试所需要的激励源切换到暗箱内的工作位上,并切断对暗箱外工作位的激励;
步骤S4、光学探测模块获取点亮后的被测LED数码管的图像信息,图像处理模块对所获取的点亮后的LED数码管的图像信息进行处理,获取LED数码管的光学性能信息;电性能测试模块获取被测LED数码管的电学性能信息;
步骤S5、主控模块根据被测LED数码管的光学性能信息和电学性能信息判断被测LED数码管是否为良品。
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