[发明专利]一种LED数码管的光电检测系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光电检测系统及其方法，特别是涉及一种LED数码管的光电检测系统及其方法。

背景技术

在LED制造领域，需要对已制造完成的LED数码管进行批量化的生产检测，检测LED数码管的电气性能、功能参数、外观等。然而，对于LED数码管而言，除检测前述性能外，还需要对LED数码管的光性能参数进行检测。

目前技术情况下，电子元器件制造过程中的前端工序，如晶片的固定、晶片的焊接等，都已由自动化机器来完成，而电子元器件的检测工序，自动化程度较低，尤其是针对部分领域的电子元器件或非标准封装的电子元器件。

非标准封装的电子元器件难以实现自动化检测的主要原因是，这些电子元器件的外形和引脚尺寸不规则，不同种类的器件之间封装差异性大，而自动化机器需要首先对被测对象的特征进行提炼和学习，才能实现标准化和重复性的检测动作，但被测对象特征的不确定性使提炼和学习的难度大大增加。

具体地，现有技术中对非标准封装的LED数码管大都采用人工检测或专用设备检测。检其中，检测包括电性能检测及光性能检测。电性能检测在业界已非常成熟，主要通过仪器测量LED器件的电压电流特性。

光性能的人工检测，即点亮LED数码管后，靠人工肉眼来判断各项光学参数是否符合要求。依靠人工及肉眼观测的检测项目，存在主观性和检测结果的不一致性，同时，这些检测项目对检测人员的技能要求很高，检测人员需要经过较长期的学习和训练才能上岗。因此，现有技术中的LED数码管光电性能的人工检测方法不仅检测效率低、准确性差，耗费的人力大，而且对检测人员的技能要求高，检测时间长容易造成检测人员的疲劳损伤及检测准确性的降低。

光性能的专用设备检测，即采用专用的亮度测试仪器进行检测。这需要逐个点亮每个管芯，并通过人工操作逐个测试和记录每个LED数码管的光学特性。用这样的方法测试一个器件需要很长的时间，一般是用于样品测试研究，而完全无法用于批量生产制造过程，亮度测试仪器成本较高，无法测试色度指标、杂质指标等，且利用率低。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种LED数码管的光电检测系统及其方法，能够对LED数码管的光电性能进行自动化的检测，满足对少量LED数码管光电性能的检测需求。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种LED数码管的光电检测系统，包括光学探测模块、暗箱、可切换工装板、工装板驱动模块、LED切换驱动模块、主控模块、图像处理模块和电性能测试模块；所述光学探测系统设置在所述暗箱内，包括相机、光学镜头和光源，用于获取点亮后的被测LED数码管的图像信息；所述暗箱设置在所述可切换工装板上，用于为所述光学探测系统提供工作环境；所述可切换工装板置于所述暗箱的下方和所述工装板驱动模块的上方，用于可切换地放置被测LED数码管；所述工装板驱动模块与所述主控模块相连，用于在所述主控模块的控制下驱动所述可切换工装板进行位置切换；所述LED切换驱动模块与所述主控模块相连，用于在所述主控模块的控制下驱动点亮所述暗箱正对的工作位上的被测LED数码管；所述图像处理模块与所述光学探测系统和所述主控模块相连，用于对所述光学探测系统所获取的点亮后的LED数码管的图像信息进行处理，获取被测LED数码管的光学性能信息；所述电性能测试模块与所述主控模块相连，用于获取被测LED数码管的电学性能信息；所述主控模块用于根据所述图像处理模块和所述电性能测试模块的测试结果，判断被测LED数码管是否为良品。

根据上述的LED数码管的光电检测系统，其中：所述相机采用CCD相机或CMOS相机。

根据上述的LED数码管的光电检测系统，其中：所述可切换工装板为长条形，左右两侧分别设置有测试工作位，每个工作位上用于放置若干个被测LED数码管，且两侧的工作位能够实现左右切换。

根据上述的LED数码管的光电检测系统，其中：所述可切换工装板为转盘式，在转盘上每隔一定角度设置有测试工作位，每个工作位用于放置若干个被测LED数码管，通过转动转盘能够实现工作位的切换。

根据上述的LED数码管的光电检测系统，其中：所述工装板驱动模块采用电机驱动，或者采用气缸驱动，或者直接通过人工进行推动。

根据上述的LED数码管的光电检测系统，其中：所述光学性能信息包括被测LED数码管发光的亮度均匀性、色度均匀性、亮度分档、色度分档、是否漏光、是否有杂质以及是外壳否有划痕。