[发明专利]一种分析样品中相互干扰元素真实浓度的方法

权利要求书

1.一种分析样品中相互干扰元素真实浓度的方法，应用于原子发射光谱分析系统中，其特征在于：包括以下步骤：

S1.激发端激发待分析样品，形成待分析样品中元素的光谱；

S2.测控端通过光电倍增管将光信号转化为电信号，以获得每个元素的特征谱线强度，然后，测控端采集待分析样品中第i个分析元素的测量强度I_i，并将I_i传送至处理器中；

S3.处理器调用存储器中的曲线系数A、B、C、D，通过公式一：

C_i＝A*I_i³+B*I_i²+C*I_i+D，获得待分析样品中相互干扰元素的测量浓度C₁～C_n，其中I_i表示待分析样品中第i个元素的测量强度，C_i表示待分析样品中第i个元素的测量浓度；

S4.处理器调用存储器中共存元素的相互干扰系数k_ij，并结合S3中的C_i，建立模型一：k11k12...k1j...k1nk21k22...k2i...k2n..................ki1ki2...kij...kin..................kn1kn2...knj...knn*C10C20...Ci0...Cn0=C1C2...Ci...Cn,]]>通过解算模型一获得待分析样品中的元素的真实浓度C_i⁰；

其中，n表示待分析样品中的元素个数，k_ij表示待分析样品中共存元素的相互干扰系数，C_i表示待分析样品中第i个元素的测量浓度。