[发明专利]测试单元、阵列基板和显示面板

权利要求书

1.一种测试单元，包括多条信号线、短路结构和测试结构，所述短路结构包括多条短路线，每条短路线用于连接颜色相同、极性相同的子像素对应的信号线，所述测试结构包括至少一条测试线，其特征在于，所述短路结构设置在信号线的一端，所述短路结构与所述测试结构相连。

2.根据权利要求1所述的测试单元，其特征在于，所述测试结构包括多条测试线，所述多条短路线被分为多个短路线组，多个短路线组与多条测试线对应相连。

3.根据权利要求2所述的测试单元，其特征在于，所述多条测试线包括第一测试线和第二测试线，所述多个短路线组包括由奇数行的短路线组成的奇数短路线组和由偶数行的短路线组成的偶数短路线组，所述奇数短路线组中的每条短路线与所述第一测试线相连，所述偶数短路线组中的每条短路线与所述第二测试线相连。

4.根据权利要求3所述的测试单元，其特征在于，所述短路结构包括六条短路线。

5.根据权利要求3所述的测试单元，其特征在于，所述测试单元还包括多条第一连接线和多条第二连接线，多条所述第一连接线分别用于连接所述奇数短路线中的多条短路线与所述第一测试线，多条所述第二连接线分别用于连接所述偶数短路线组中的多条短路线与所述第二测试线。

6.根据权利要求5所述的测试单元，其特征在于，多条所述短路线设置在同一层，所述短路线上方设置有第一绝缘层，

所述第一连接线设置在所述短路线下方的层中，且所述短路线在所述第一连接线所在的层上的投影与所述第一连接线不重叠，所述第一连接线和所述短路线之间设置有第二绝缘层，所述第一绝缘层的与所述奇数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第一过孔，所述第二绝缘层和所述第一绝缘层的与每条所述第一连接线对应位置处设置有第二过孔，所述测试单元还包括第一连接件，所述第一连接件通过所述第二过孔和所述第一过孔将所述第一连接线与相对应短路线电连接；和/或

所述第二连接线设置在所述短路线下方的层中，且所述短路线在所述第二连接线所在层上的投影与所述第二连接线不重叠，所述第二连接线和所述短路线之间设置有第三绝缘层，所述第一绝缘层的与所述偶数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第三过孔，所述第一绝缘层和所述第三绝缘层的与每条第二连接线对应位置设置有第四过孔，所述测试单元还包括第二连接件，所述第二连接件通过所述第四过孔和所述第三过孔将所述第二连接线与相对应的短路线电连接。

7.根据权利要求5所述的测试单元，其特征在于，多条所述短路线设置在同一层，

所述第一连接线设置在所述短路线上方的层中，且所述第一连接线在所述短路线所在层上的投影与所述短路线不重叠，所述第一连接线和所述短路线之间设置有第一绝缘层，所述第一连接线上方设置有第二绝缘层，所述第一绝缘层和所述第二绝缘层的与所述奇数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第一过孔，所述第二绝缘层的与每条所述第一连接线对应位置处设置有第二过孔，所述测试单元还包括第一连接件，所述第一连接件通过所述第二过孔和所述第一过孔将所述第一连接线与相对应短路线电连接；和/或

所述第二连接线设置在所述短路线上方的层中，且所述第二连接线在所述短路线所在层上的投影与所述短路线不重叠，所述第二连接线和所述短路线之间设置有第三绝缘层，所述第二连接线上方设置有第四绝缘层，所述第四绝缘层和所述第三绝缘层的与所述偶数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第三过孔，所述第四绝缘层的与每条第二连接线对应位置设置有第四过孔，所述测试单元还包括第二连接件，所述第二连接件通过所述第四过孔和所述第三过孔将所述第二连接线与相对应的短路线电连接。

8.根据权利要求6或7所述的测试单元，其特征在于，制成所述第一连接件和所述第二连接件的材料包括透明电极材料。

9.一种阵列基板，包括显示区和环绕该显示区设置的非显示区，所述显示区内设置有多条数据线和多条栅线，所述非显示区内设置有测试单元，其特征在于，所述测试单元包括多条信号线、短路结构和测试结构，所述短路结构包括多条短路线，每条短路线用于连接颜色相同、极性相同的子像素对应的信号线，所述测试结构包括至少一条测试线，其中，所述短路结构设置在信号线的一端，多条所述短路结构与所述测试结构相连。