[发明专利]测试单元、阵列基板和显示面板

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种测试单元、包括该测试单元的阵列基板和包括该阵列基板的显示面板。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)的主体结构包括液晶面板和背光源，液晶面板包括对盒的阵列基板、彩膜基板以及设置在其间的液晶层。

在显示器的制作过程中，需要对阵列基板以及液晶盒进行测试。阵列基板上设置有与数据线一一对应的信号线11，阵列测试(Array test)时，可以将信号线11按照排列顺序分为奇数信号线和偶数信号线，并设置第一测试线21和第二测试线22分别为奇数信号线和偶数信号线提供测试信号。液晶盒测试(cell test)时，通过与每条信号线11对应的引针(pin)输入测试信号，测试信号相同的信号线11与同一条短路线31短接，例如，可以设置六条短路线31，与第一条短路线31相连的信号线分别为第1条、第7条、第13条……信号线；与第二条短路线31相连的信号线分别为第2条、第8条、第14条信号线，并按此规则完成所有信号线11与短路线31的连接，如图1所示。

但是，在图1中，第一测试线21、第二测试线22以及短路线31沿信号线11的长度方向依次排列，信号线在第二测试线22与短路线31之间的部分较长，占用的了较大的面积，从而减少了阵列基板上用于排布数据线和栅线的布线空间，而金属线布置密集将导致静电击穿发生的可能性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试单元、一种包括该测试单元的阵列基板和一种包括该阵列基板的显示面板，所述测试单元所占用的宽度较小，因而阵列基板上数据线和栅线的布线区域较大，从而减小静电击穿现象的发生。

为了实现上述目的，本发明提供一种测试单元，包括多条信号线、短路结构和测试结构，所述短路结构包括多条短路线，每条短路线用于连接颜色相同、极性相同的子像素对应的信号线，所述测试结构包括至少一条测试线，其中，所述短路结构设置在信号线的一端，所述短路结构与所述测试结构相连。

优选地，所述测试结构包括多条测试线，所述多条短路线被分为多个短路线组，多个短路线组与多条测试线对应相连。

优选地，所述多条测试线包括第一测试线和第二测试线，所述多个短路线组包括由奇数行的短路线组成的奇数短路线组和由偶数行的短路线组成的偶数短路线组，所述奇数短路线组中的每条短路线与所述第一测试线相连，所述偶数短路线组中的每条短路线与所述第二测试线相连。

优选地，所述短路结构包括六条短路线。

优选地，所述测试单元还包括多条第一连接线和多条第二连接线，多条所述第一连接线分别用于连接所述奇数短路线中的多条短路线与所述第一测试线，多条所述第二连接线分别用于连接所述偶数短路线组中的多条短路线与所述第二测试线。

优选地，多条所述短路线设置在同一层，所述短路线上方设置有第一绝缘层，

所述第一连接线设置在所述短路线下方的层中，且所述短路线在所述第一连接线所在的层上的投影与所述第一连接线不重叠，所述第一连接线和所述短路线之间设置有第二绝缘层，所述第一绝缘层的与所述奇数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第一过孔，所述第二绝缘层和所述第一绝缘层的与每条所述第一连接线对应位置处设置有第二过孔，所述测试单元还包括第一连接件，所述第一连接件通过所述第二过孔和所述第一过孔将所述第一连接线与相对应短路线电连接；和/或

所述第二连接线设置在所述短路线下方的层中，且所述短路线在所述第二连接线所在层上的投影与所述第二连接线不重叠，所述第二连接线和所述短路线之间设置有第三绝缘层，所述第一绝缘层的与所述偶数短路线组中的每条短路线对应位置处设置有第三过孔，所述第一绝缘层和所述第三绝缘层的与每条第二连接线对应位置设置有第四过孔，所述测试单元还包括第二连接件，所述第二连接件通过所述第四过孔和所述第三过孔将所述第二连接线与相对应的短路线电连接。

优选地，多条所述短路线设置在同一层，