[发明专利]一种LED器件的光电测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410608553.5 | 申请日： | 2014-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN104316295B | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 孙天鹏;李春辉;董萌 | 申请（专利权）人： | 广东威创视讯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人： | 禹小明,凌衍芬 |
| 地址： | 510670 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 led 器件 光电 测试 方法 装置 | ||
1.一种LED器件的光电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，测试并记录发光数据，所述发光数据包括亮度、波长和光强；
S2：关闭步骤S1中点亮的LED芯片的其中的一颗或多颗，测试并记录发光数据；
S3：根据S1和S2测得的发光数据，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；
S4：将该一颗或多颗LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格，若该一颗或多颗LED芯片不合格，则判定该待测LED器件不合格；若该一颗或多颗LED芯片合格，则重复步骤S1~S4的方法，继续判定该待测LED器件的其余LED芯片是否合格，若待测LED器件的全部LED芯片均合格，则判定该LED器件合格。
2.根据权利要求1所述的LED器件的光电测试方法，其特征在于，所述待测LED器件为SMD LED器件或LED COB模块。
3.根据权利要求2所述的LED器件的光电测试方法，其特征在于，所述待测LED器件为LED COB模块时，对R、G、B LED芯片分别进行测试。
4.根据权利要求1所述的LED器件的光电测试方法，其特征在于，采用恒定电流控制为待测LED器件供电。
5.根据权利要求1所述的LED器件的光电测试方法，其特征在于，所述待测LED器件的R、G、B LED芯片的点亮电流分别为1mA 、0.3mA 、0.2mA。
6.一种LED器件的光电测试装置，其特征在于，包括：
发光控制模块：用于点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，或者关闭点亮的LED芯片的其中一颗或多颗；
数据收集模块：用于收集待测LED器件的发光数据，传送给数据分析模块，所述发光数据包括亮度、波长、光强；
数据分析模块：用于对点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片时的发光数据和关闭点亮的LED芯片的其中一颗或多颗时的发光数据进行比较分析，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；
决策模块：用于将数据分析模块得到的LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格。
7.根据权利要求6所述的LED器件的光电测试装置，其特征在于，所述待测LED器件为SMD LED器件或LED COB模块。
8.根据权利要求6所述的LED器件的光电测试装置，其特征在于，所述待测LED器件的R、G、B LED芯片的点亮电流分别为1mA 、0.3mA 、0.2mA。
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