[发明专利]一种LED器件的光电测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及LED器件测试领域，更具体地，涉及一种LED器件的光电测试方法及装置。

背景技术

近年来，随着LED芯片尺寸的进一步减小、封装技术的发展、价格的下降以及客户对高清晰显示的追求，LED室内显示屏得到了快速的发展。目前，室内LED显示屏的分辨率大幅提高，但LED芯片亮度普遍较高，LED显示屏的观看者容易出现刺目及眩晕等问题。为了追求更好的显示效果，行业提出“低亮高灰”小点距室内LED显示的概念，这对室内显示屏在要求更高的分辨率、色彩饱和度及清晰度的同时，也要求LED显示屏的亮度满足人眼观看舒适度。目前LED室内显示屏亮度益趋低亮化，业界开始提出采用低亮度LED芯片，或采用静态驱动方式，或采用更少的扫描方式（1/4，1/8），旨在降低LED显示屏的屏体显示亮度，满足人眼观看舒适的要求。

如果采用低亮LED芯片或改变扫描方式降低亮度，会要求LED显示屏工作时的驱动电流较小，为了严格控制LED显示屏的光学一致性，要求对应的LED器件在分光测试时，测试电流小于或等于LED显示屏驱动电流，由于驱动电流较小，使得LED芯片测试光强度非常弱。传统户内小间距显示屏应用电流一般比较大，所以测试电流也相对较大，在此种测试条件下测试光强也比较大，发光强度一般在10mcd-200mcd之间，采用传统测试方案直接对需要测试芯片依次点亮测试速度一般在20ms-50ms之间测试一颗芯片，自动化测试速度非常快，易于实现量产。对于“低亮高灰”室内小间距LED显示屏，要求用较小电流驱动LED芯片点亮，其电流可以一般可以应用到0.01mA~1mA，在此种情况下，由于电流非常低导致单颗芯片发光强度特别小，一般在0.1~10mcd之间，采用单颗LED芯片依次点亮就会使得单一芯片测试积分时间过长，一般500~3000ms。严重影响测试效率，降低产能，提高整个生产成本。所以，如果采用传统测试方案对小电流驱动LED依次单颗点亮芯片进行光学参数测试。一方面，由于目标光源光强过弱，使得物理积分时间过长，测试效率低，使得此类产品无法达到量产化的快速分光测试要求；另一方面，目标光源光强过弱，影响测试结果的准确性，将直接影响LED显示产品的光学一致性，最终影响显示效果。所以常规测试方案在测试效率及测试准确性方面制约了目前提倡的“低亮高灰”LED显示产品的发展。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。

本发明的首要目的是提供一种测试高效、准确的LED器件的光电测试方法

本发明的进一步目的是提供一种LED器件的光电测试装置。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

一种LED器件的光电测试方法，包括以下步骤：

S1：点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，测试并记录发光数据；

S2：关闭步骤S1中点亮的LED芯片的其中的一颗或多颗，测试并记录发光数据；

S3：根据S1和S2测得的发光数据，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；

S4：将该一颗或多颗LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格，若该一颗或多颗LED芯片不合格，则判定该待测LED器件不合格；若该一颗或多颗LED芯片合格，则重复步骤S1~S4的方法，继续判定该待测LED器件的其余LED芯片是否合格，若待测LED器件的全部LED芯片均合格，则判定该LED器件合格。

一种LED器件的光电测试装置，包括：

发光控制模块：用于点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片，或者关闭点亮的LED芯片的其中一颗或多颗；

数据收集模块：用于收集待测LED器件的发光数据，传送给数据分析模块；

数据分析模块：用于对点亮待测LED器件的全部或部分LED芯片时的发光数据和关闭点亮的LED芯片的其中一颗或多颗时的发光数据进行比较分析，计算出该一颗或多颗LED芯片的发光数据；

决策模块：用于将数据分析模块得到的LED芯片的发光数据与预设的标准发光数据进行比较，判断该一颗或多颗LED芯片是否合格。

与现有技术相比，本发明技术方案的有益效果是：