[发明专利]一种薄介质的无接触式检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及光电检测技术领域，尤其涉及一种薄介质的无接触式检测方法及装置。

背景技术

在日常生活及商业活动中，纸币在使用过程中常常会出现缺角、撕裂等现象，人们常常是采用胶带或者薄纸和胶水等方式将缺损或撕裂的纸币粘接起来，继续使用。表面粘有异物的纸币采用传统机械设备难以实现有效检出。附着异物的纸币容易造成银行验钞设备和清分识别设备的损坏，如果采用人工检出的方式，浪费人力与时间，检出效率低。金融行业在国家的支持下提出“人民币流通券要到七成新以上”的要求，这些给金融自助设备的纸币识别能力和水平增加了很大的压力。

现有纸币表面异物检测方法有机械测厚装置、红外检测装置和超声波检测装置，其中机械测厚装置测量精度较低，难以有效检测纸币表面的薄异物。红外检测装置应用面窄，只能对纸币表面不同方向具有不同反射特性的异物进行检测，如透明胶带，超声波检测装置采用超声波作为载体，存在测量波长长、精度低的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种薄介质的无接触式检测方法及装置，解决了现有机械测厚装置、红外检测装置和超声波检测装置进行薄介质表面异物检测，而导致的精度较低和测量波长长的技术问题。

本发明实施例提供的一种薄介质的无接触式检测方法，包括：

S1：获取由光源的发射光线经薄介质反射回的目标光线到达线列光电探测器的时间；

S2：获取所述光源经参考平面反射回的参考光线到达所述线列光电探测器的时间；

S3：根据获取到的所述目标光线和所述参考光线到达所述线列光电探测器的时间，计算目标光线和参考光线对应的第一光程和第二光程，之后通过信号处理模块按照预置计算方式获取干涉条纹亮暗条纹数；

S4：将所述干涉条纹亮暗条纹数与标准干涉条纹亮暗条纹数按照预置方式进行差值法比对，若比对结果大于预置阈值，则所述薄介质表面存在异物。

可选地，所述步骤S1之前还包括：

启动所述光源，使得所述光源的发射的所述光线在分光部件的作用下将所述光线分为反射至所述薄介质处的第一光线，以及透射至所述参考平面处的第二光线；

所述第一光线经所述薄介质再反射为目标光线；

所述第二光线经所述参考平面反射回分光部件进行再反射为参考光线。

可选地，所述预置阈值为根据最旧的所述薄介质和所述标准薄介质按照最大差值方式确定。

可选地，所述步骤S3具体包括：

根据第一公式结合所述参考光线到达所述线列光电探测器的时间计算出所述参考光线的所述第一光程，并根据第二公式结合所述目标光线到达所述线列光电探测器的时间计算出所述目标光线的所述第二光程；

结合所述第一光程、所述第二光程和所述线列光电探测器的光敏单元的数目按照第三公式计算出所述干涉条纹亮暗变化次数；

将所述干涉条纹变化次数根据第四公式计算出所述干涉条纹亮暗条纹数的干涉条纹亮暗变化平均值。

可选地，所述步骤S4包括：

获取所述干涉条纹亮暗变化平均值与干涉条纹亮暗变化平均值的差值；

对所述差值与所述预置阈值进行比对，若比对结果大于所述预置阈值，则所述薄介质表面存在异物，若比对结果不大于所述预置阈值且不小于零，则所述薄介质表面不存在异物。

可选地，所述第一公式为所述第一光程Δ₁＝ct₁；

所述第二公式为所述第二光程Δ₂＝ct₂；

其中，t₁为从光源开启到参考光线到达线列光电探测器的时间，t₂为从光源开启目标光线到达线列光电探测器的时间。；

所述第三公式为所述干涉条纹亮暗条纹数其中，M为所述光源的光信号行扫描总行数，N为所述线列光电探测器的光敏单元的数目，λ₀为所述光源的波长；

所述第四公式为所述干涉条纹亮暗条纹数为干涉条纹亮暗变化平均值

本发明实施例提供的一种薄介质的无接触式检测装置，其特征在于，包括：光源，分光部件，参考平面，线列光电探测器，信号处理模块和薄介质；

所述光源，所述分光部件与所述参考平面位于同一水平线位置；

所述信号处理模块，所述光电技术模块，所述分光部件与所述薄介质位于同一垂直线位置；

所述线列光电探测器位于所述信号处理模块和所述分光部件之间；

所述分光部件为倾斜状。