[发明专利]火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法

权利要求书

1.一种火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法，待测试样品中包括待测试元素X、一个至多个第一干扰元素A_i和一个至多个第二干扰元素M_j；其中，测试元素X在火花源的作用下产生的分析谱线信号强度为I_x；其特征在于，该校正方法包括以下步骤：

a.准备25到30个测试元素X、第一干扰元素A_i和第二干扰元素M_j含量已知的系列标准物质或样品，该标准物质或样品与待测试样品基体相同；所述系列标准物质或样品的含量范围覆盖待测试样品中测试元素X及干扰元素A_i和M_j的含量；

b.打开光谱仪，把步骤b中准备好的标样分别引入光谱仪进行检测，获取由各标样产生的不同元素灵敏线光谱信号，并对光谱信号进行扣除背景、剔除异常、积分放大处理；

(i)处理后的第一干扰元素A_i的光谱信号为I_i，处理后的第二干扰元素M_j的光谱信号为I_j，建立各个干扰元素含量的校正量ΔC，处理后的测试元素X的光谱信号为I_x；

ΔC＝f(I_i)+f(I_x)*f(I_j)；   (1)

(ii)元素X干扰校正后含量，记为C，系列标样中元素X的标准含量记为C_x；

C＝C_x+ΔC；   (2)

(iii)处理后的测试元素X的光谱信号为I_x，为横坐标，以校正后的含量C为纵坐标，绘图获得测试元素X的校准曲线及公式；

C＝g(I_x)；   (3)

c.在与步骤b相同的测试条件下，将步骤a中同时含有待测元素X、第一干扰元素A_i和第二干扰元素M_j的待测样品引入光谱仪分析；将采集并处理后的测试元素信号I_x，第一、第二干扰元素信号I_i,I_j，利用公式(2)(3)，计算在有其他元素干扰存在的情况下，待测元素X的浓度C_con：

C_con＝g(I_x)-(f(I_i)+f(I_x)*f(I_j))；   (4)。