[发明专利]触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法

权利要求书

1.一种触摸面板装置(100A、100B)，其特征在于包括：

第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)，第一电阻膜和第二电阻膜是分隔开的；

开关(31A-35A、31B-37B)，其连接到所述电极；

控制器(201)，其控制所述开关的操作；以及

检测器(201、202)，当电压被施加到作为所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的一者的电压施加侧的电阻膜时，其基于从作为所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的另一者的电压检测侧的电阻膜上的电极检测到的电压，检测触摸的存在与否和所述触摸的位置；

其中，在所述检测器进行检测操作之前，所述控制器控制所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，使得所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地。

2.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，所述检测器两次或更多次地交替检测指示所述触摸的位置的X坐标和Y坐标，且将检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值设置为所述触摸的位置。

3.根据权利要求2所述的触摸面板装置，其特征在于，还包括：

设置器(203)，其设置对X坐标和Y坐标中的每个的检测次数和用于划分X坐标和Y坐标中的每个的检测次数的划分数。

4.根据权利要求2所述的触摸面板装置，其特征在于，所述检测器通过将包括在一定范围内的X坐标的数量和Y坐标的数量与给定阈值进行比较，判断是否错误地检测到所述触摸，所述范围是通过在检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值中加上给定偏差并且通过从检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值中减去给定偏差而决定的。

5.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，

所述控制器控制所述电压施加侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，以在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之前，向所述电压施加侧的所述电阻膜施加给定电压，

在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，所述检测器基于从所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极检测到的电压，检测所述触摸的存在与否。

6.根据权利要求1至5中的任一个所述的触摸面板装置，其特征在于，

所述控制器控制所述电压施加侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，以在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之前，为所述电压施加侧的所述电阻膜产生电势梯度，

在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，所述检测器基于从所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极检测到的电压，检测所述触摸的存在与否。

7.一种触摸面板装置，其特征在于包括：

第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)，所述第一电阻膜和第二电阻膜是分隔开的，所述第一电阻膜和所述第二电阻膜中的一者是电压施加侧的电阻膜，且其中另一者是电压检测侧的电阻膜；

检测器(201、202)，当电压被施加到所述电压施加侧的所述电阻膜时，其基于所述电压检测侧的所述电阻膜上的电压，检测触摸的存在与否和触摸坐标；

其中，对于所述触摸的X坐标和Y坐标中的每一个，所述检测器两次或更多次地交替检测X坐标和Y坐标，并且基于检测到的X坐标和检测到的Y坐标检测所述触摸的存在与否和所述触摸坐标。

8.一种用于控制触摸面板装置的方法，所述触摸面板装置包括作为第一电阻膜和第二电阻膜之中的一者的电压施加侧的电阻膜(10A、10B、20B)和作为所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的另一者的电压检测侧的电阻膜(10A、10B、20A)，所述电阻膜中的每个包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)，所述第一电阻膜和第二电阻膜是分隔开的，其特征在于，所述方法包括：

当电压被施加到所述电压施加侧的所述电阻膜时，控制所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极所连接的开关，以将所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地；

在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，检测触摸的存在与否和所述触摸的位置。