[发明专利]触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法

说明书

本发明公开了触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法。一种触摸面板装置(100A)包括：第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B‑25B)；开关(31A‑35A、31B‑37B)，其连接到电极；控制器(201)，其控制开关的操作；和检测器(201、202)，当电压被施加到第一电阻膜和第二电阻膜之中的电压施加侧的电阻膜时，其基于从第一电阻膜和第二电阻膜之中的电压检测侧的电阻膜上的电极检测到的电压，检测触摸的存在与否和触摸的位置；其中，在检测器进行检测操作之前，控制器控制电压检测侧的电阻膜上的电极所连接的开关的操作，使得电压检测侧的电阻膜上的电极接地。

技术领域

本发明涉及触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法。

背景技术

传统上，已知的是用电阻膜型触摸面板作为输入设备之一。在电阻膜型触摸面板中，在两端均具有电极的两个电阻膜借助点间隔物(dot spacer)彼此相对。在触摸压力的作用下，触摸位置的电阻膜接触另一个电阻膜。由此，检测到触摸位置。此外，已知一种通过计算会聚电势(convergence electric potential)预先检测电阻膜异常的方法(参见日本特许专利公开No.11-24843)。

发明内容

在上述电阻膜型触摸面板中，表面侧的电阻膜因老化劣化或环境变化而弯曲，因此电阻膜之间的电容增大。电容的增大钝化了进行坐标检测时的电压波形。因此，当在电压会聚之前执行坐标检测时，会出现错误检测和触摸的坐标偏差。

日本特许专利公开No.11-24843公开的技术目的在于预先检测异常并且在发生故障之前更换触摸面板。电容增大的触摸面板不可连续使用。

近来，随着触摸面板变薄且缩小，具有大电容的触摸面板(即，高电容面板)正在增加。因此，在传统的坐标检测方法中，会出现诸如错误检测、触摸的坐标偏差和无法输入的故障。

因此，本发明的一方面的目的在于，提供一种可限制诸如错误检测、触摸的坐标偏差和无法输入的故障的触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法。

根据本发明的一方面，提供了一种触摸面板装置，所述触摸面板装置包括：第一电阻膜和第二电阻膜，其均包括电极；开关，其连接到所述电极；控制器，其控制所述开关的操作；和检测器，当电压被施加到所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的电压施加侧的电阻膜时，其基于从所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的电压检测侧的电阻膜上的电极检测到的电压，检测触摸的存在与否和所述触摸的位置；其中，在所述检测器进行检测操作之前，所述控制器控制所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，使得所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地。

附图说明

图1是示出四布线型(four-wire type)触摸面板100A的构造的示图；

图2是示出五布线型触摸面板100B的构造的示图；

图3是示出根据实施例的触摸面板装置的构造的示图；

图4是示出在进行触摸检测时触摸面板100A被放电的状态的示图；

图5是示出在进行触摸检测时触摸面板100A被充电的状态的示图；

图6是示出在检测X坐标时触摸面板100A被放电的状态的示图；

图7是示出在检测X坐标时触摸面板100A被充电的状态的示图；

图8是示出在检测Y坐标时触摸面板100A被放电的状态的示图；

图9是示出在检测Y坐标时触摸面板100A被充电的状态的示图；

图10是示出触摸面板100A和100B的放电时间和电压之间的关系的示图；