[发明专利]端羟基有机硅分子的羟值测定方法

权利要求书

1.一种端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：在催化剂存在的条件下让端羟基有机硅分子发生缩合反应，通过吸水剂收集端羟基缩合产生的水，换算得到端羟基有机硅分子的羟值。

2.如权利要求1所述的端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：所述端羟基有机硅分子具有下式所示的结构：

HO(R²R³SiO)nR¹

其中R¹为-H、-CH₃、-C₂H₅、-CH＝CH₂、-(CH₃)₃Si或-C₆H₅；R²、R³相同或不同，为-CH₃、-C₆H₅、-CH₂CH₂CF₃、-CH＝CH₂或-CH₂CH₂CN。

3.如权利要求1所述的端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：所述催化剂为具有以下结构的有机硅醇碱：

MO[(CH₃)₂SiO]_nM

其中M为Li、Na、K、Rb、Ce、NH₄、-N(CH₃)₄、四乙基铵或四丁基磷。

4.根据权利要求1所述的端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：所述吸水剂选自无水氯化钙、无水硫酸钠、无水硫酸钙、浓硫酸、无水硫酸镁、固体氢氧化钠、碱石灰、变色硅胶或活性氧化铝中的一种或几种。

5.根据权利要求1所述的端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：所述缩合反应的反应温度控制在100～150℃。

6.根据权利要求1所述的端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：所述端羟基有机硅分子包含但不限于羟基硅油或羟基氟硅油。