[发明专利]膜片式压电驱动器缺陷检测方法在审
申请号: | 201410654118.6 | 申请日: | 2014-11-17 |
公开(公告)号: | CN105675648A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 张华伟;耿岚昱;陈宁;王朋国;焦潞铭 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业第六一八研究所 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 张毓灵 |
地址: | 710065 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 膜片 压电 驱动器 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种膜片式压电驱动器缺陷检测方法,其特征在于,包括如下 步骤:
步骤1、将压电陶瓷片的正负电极分别连接到幅频特性测试检测设备, 输出幅频特性曲线,通过判断幅频特性上的毛刺,确定该压电陶瓷片内 部有无缺陷;
如果幅频特性曲线上有毛刺,则认为有缺陷,剔除该压电陶瓷片,反之, 则认为没有内部缺陷;
步骤2:将没有内部缺陷的两个压电陶瓷片和基底材料通过焊接或胶粘 连接在一起形成压电驱动器,其中,该基底材料设置在两个压电陶瓷片 之间;
步骤3:分别引出两个压电陶瓷片的正极连接线和负极连接线,并分别 连接到幅频特性测试检测设备,并输出两个压电陶瓷片各自幅频特性曲 线;
步骤4、任何一个压电陶瓷片的幅频特性曲线出现毛刺时,认为存在连 接层缺陷,则剔除整个驱动器,只有当两个压电陶瓷片的幅频特性曲线 均无毛刺时,则认为没有缺陷。
2.根据权利要求1所述的膜片式压电驱动器缺陷检测方法,其特征 在于,所述毛刺为幅频特性曲线的斜率在除谐振点、反谐振点外,曲线 切线斜率从正值突变为负值或由负值突变为正值的区域。
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