[发明专利]膜片式压电驱动器缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 201410654118.6 申请日: 2014-11-17
公开(公告)号: CN105675648A 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 张华伟;耿岚昱;陈宁;王朋国;焦潞铭 申请(专利权)人: 中国航空工业第六一八研究所
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 张毓灵
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 膜片 压电 驱动器 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种膜片式压电驱动器缺陷检测方法,其特征在于,包括如下 步骤:

步骤1、将压电陶瓷片的正负电极分别连接到幅频特性测试检测设备, 输出幅频特性曲线,通过判断幅频特性上的毛刺,确定该压电陶瓷片内 部有无缺陷;

如果幅频特性曲线上有毛刺,则认为有缺陷,剔除该压电陶瓷片,反之, 则认为没有内部缺陷;

步骤2:将没有内部缺陷的两个压电陶瓷片和基底材料通过焊接或胶粘 连接在一起形成压电驱动器,其中,该基底材料设置在两个压电陶瓷片 之间;

步骤3:分别引出两个压电陶瓷片的正极连接线和负极连接线,并分别 连接到幅频特性测试检测设备,并输出两个压电陶瓷片各自幅频特性曲 线;

步骤4、任何一个压电陶瓷片的幅频特性曲线出现毛刺时,认为存在连 接层缺陷,则剔除整个驱动器,只有当两个压电陶瓷片的幅频特性曲线 均无毛刺时,则认为没有缺陷。

2.根据权利要求1所述的膜片式压电驱动器缺陷检测方法,其特征 在于,所述毛刺为幅频特性曲线的斜率在除谐振点、反谐振点外,曲线 切线斜率从正值突变为负值或由负值突变为正值的区域。

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