[发明专利]用于带后硅可调寄存器电路的统计时序分析方法

权利要求书

1.一种用于带后硅可调寄存器电路的统计时序分析方法，其特征在于：包括如 下步骤：

步骤1.主元压缩得到N个独立随机变量；

步骤2.生成稀疏网格配置点；

步骤3.计算每个配置点的最小时钟周期；

步骤4.计算最小时钟周期广义多项式混沌展开系数；

步骤5.计算带后硅可调寄存器电路的良率。

2.如权利要求1所述的用于带后硅可调寄存器电路的统计时序分析方法，其特 征在于，步骤2中生成稀疏网格配置点，包含如下两个子步骤：

步骤2.1：计算多维配置点；

步骤2.2：计算多维配置点相应的权重。

3.如权利要求1所述的用于带后硅可调寄存器电路的统计时序分析方法，其特 征在于，步骤3中计算每个配置点的最小时钟周期，包含如下4个子步骤：

步骤3.1：构建带权约束图，同时包含电路逻辑和电路时钟树，其中每条边 的定义如下：

ωij=Tinit-Dij,∀(i,j)∈Es,dij,∀(j,i)∈Eh,Rij,∀(i,j)∈Epst,0,∀(i,j)∈Et.]]>

步骤3.2：计算每条边相应的δ，

δij=1,∀(i,j)∈Es,0,∀(j,i)∈Eh,0,∀(i,j)∈Epst,0,∀(i,j)∈Et.]]>

步骤3.3：应用Howard算法求解最小环比率问题。

步骤3.4：计算最小时钟周期。