[发明专利]校正液晶显示装置的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201410688277.8 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104376827B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 田允允;崔贤植;方正 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 江鹏飞,汪扬
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 校正 液晶 显示装置 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;所述方法包括:

在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度;以及

调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压,使得在所述多个灰阶中的每一个下,所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。

2.如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述调节的步骤包括:利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度;在每一个灰阶下,将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。

3.如权利要求2所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述调节的步骤还包括:利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。

4.如权利要求2所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。

5.如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述多个灰阶的数目为256。

6.如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述电极是像素电极。

7.如权利要求1所述的校正液晶显示装置的方法,其特征在于,所述预定的方向为使用者的观看方向。

8.一种校正液晶显示装置的设备,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;其特征在于,所述设备包括:

测量单元,所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度;以及

调节单元,所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压,使得在所述多个灰阶中的每一个下,所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。

9.如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述调节单元利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度;在每一个灰阶下,将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。

10.如权利要求9所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述调节单元利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。

11.如权利要求9所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。

12.如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述多个灰阶的数目为256。

13.如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述电极是像素电极。

14.如权利要求8所述的校正液晶显示装置的设备,其特征在于,所述预定的方向为使用者的观看方向。

15.一种校正液晶显示装置的仪器,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;其特征在于,所述仪器包括:

测量单元,所述测量单元包括亮度测量组件和角度控制组件;以及

调节单元,所述调节单元包括与所述液晶显示装置相连接的电压调整组件。

16.如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器,其特征在于,所述角度控制组件支撑所述亮度测量组件。

17.如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器,其特征在于,所述亮度测量组件是电荷耦合器件。

18.如权利要求15所述的校正液晶显示装置的仪器,其特征在于,所述电压调整组件与所述液晶显示装置的数据线驱动电路相连接。

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