[发明专利]校正液晶显示装置的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201410688277.8 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104376827B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 田允允;崔贤植;方正 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 江鹏飞,汪扬
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 校正 液晶 显示装置 方法 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示领域,特别地涉及一种校正液晶显示装置的方法和设备。

背景技术

随着薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT-LCD Display)技术的发展和工业技术的进步,液晶显示器件生产成本降低、制造工艺的日益完善,TFTLCD已经取代了阴极射线管显示成为平板显示领域的主流技术;并且,由于其本身所具有的优点,在市场和消费者心中已成为理想的显示器件。目前市场上各种模式、各种尺寸的液晶显示屏已十分普及,而对于最为人们接受的液晶显示屏,其技术缺点有待急需解决。

发明内容

为了改善显示效果在角度上的差异,现有的液晶显示器中,如图1所示,显示阵列的相邻行101、102中的像素电极101a、102a通常被设置为具有不同的倾斜取向(也称为畴取向,domain orientation)。在这种布置模式下,从侧面(即,倾斜于液晶面板的方向,例如沿着液晶面板对角线的任意倾斜方向)进行观察时,会发现显示器呈现一行亮一行暗的现象(也称为H-Line现象),如图2所示。由于相邻行中的像素电极通常被设置为具有不同的畴取向,在液晶显示器的所有灰阶下,从显示器的侧面观察,都将存在上述现象。人眼对低灰阶敏感度更高,因此这种明暗交错的现象在显示器显示低灰阶(即,亮度较低的)图像时尤为明显。

为了解决上述技术问题,本发明的实施例提供一种校正液晶显示装置的方法,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;所述方法包括:

在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度;以及

调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压,使得在所述多个灰阶中的每一个下,所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。

优选地,所述调节的步骤包括:利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度;在每一个灰阶下,将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。

优选地,所述调节的步骤还包括:利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。

优选地,所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。

优选地,所述多个灰阶的数目为256。

优选地,所述电极是像素电极。

优选地,所述预定的方向为使用者的观看方向。

本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的设备,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;所述设备包括:

测量单元,所述测量单元在预定的方向上分别测量奇数行像素在多个灰阶下的亮度和偶数行像素在所述多个灰阶下的亮度;以及

调节单元,所述调节单元调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压,使得在所述多个灰阶中的每一个下,所述奇数行像素的亮度与所述偶数行像素的亮度在所述预定的方向上相同。

优选地,所述调节单元利用在预定的方向上同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度来计算在该灰阶下的参考亮度;在每一个灰阶下,将奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度调节为与该灰阶下的参考亮度相同。

优选地,所述调节单元利用奇数行像素和/或偶数行像素的电压-透射率关系来调节所述奇数行像素的数据线电压和/或所述偶数行像素的数据线电压。

优选地,所述参考亮度是在同一个灰阶下测量的奇数行像素的亮度和偶数行像素的亮度的均值。

优选地,所述多个灰阶的数目为256。

优选地,所述电极是像素电极。

本发明的实施例还提供了一种校正液晶显示装置的仪器,所述液晶显示装置包括像素阵列,所述像素阵列中的每个像素包括倾斜布置的电极,其中奇数行像素中的所述电极的倾斜取向不同于偶数行像素中的所述电极的倾斜取向;所述仪器包括:

测量单元,所述测量单元包括亮度测量组件和角度控制组件;以及

调节单元,所述调节单元包括与所述液晶显示装置相连接的电压调整组件。

优选地,所述角度控制组件支撑所述亮度测量组件。

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