[发明专利]一种二态维特比检测系统及方法有效
申请号: | 201410710039.2 | 申请日: | 2014-11-28 |
公开(公告)号: | CN105703879B | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 宋挥师 | 申请(专利权)人: | 联芯科技有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 路凯;胡彬 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二态维特 检测 系统 方法 | ||
1.一种二态维特比检测系统,其特征在于,包括:
时域转换到频域模块,用于将输入的时间域样本点信号转换为频域样本点信号;
差分判决模块,用于对频域样本点信号进行差分判决,获得判决比特和判决变量;
相位误差计算模块,将判决变量和判决比特输入到相位误差计算模块,以计算判决误差变量;
频域二态维特比模块;用于对多个判决误差变量联合检测,获得修正后的判决误差变量值;
缓存模块,用于存储判决比特,以匹配频域二态维特比模块引入的处理延时;
判决比特修正模块,利用修正后的判决误差变量与缓存模块输出的判决比特进入到判决比特修正模块进行修正,输出修正比特。
2.根据权利要求1所述的一种二态维特比检测系统,其特征在于,所述的时域转换到频域模块首先对输入的时间样本信号提取相位,再差分操作获得差分相位。
3.根据权利要求2所述的一种二态维特比检测系统,其特征在于,所述的时域转换到频域模块对输入的时间样本信号提取相位可以通过正切函数或者坐标旋转数字计算机来实现。
4.根据权利要求1所述的一种二态维特比检测系统,其特征在于,所述的相位误差计算模块的计算方法针对二进制的连续相位调制CPM信号。
5.根据权利要求2所述的一种二态维特比检测系统,其特征在于,频域二态维特比模块的二个状态对应的状态属性为0或者-pi。
6.根据权利要求1或5所述的一种二态维特比检测系统,其特征在于,所述的频域二态维特比模块输出值为0或者-pi。
7.一种二态维特比检测方法,其特征在于,包括:
利用时域转换到频域模块将输入的时间域样本点信号转换为频域样本点信号;
利用差分判决模块对频域样本点信号进行差分判决,获得判决比特和判决变量;
将判决比特输入缓存模块,以匹配频域二态维特比引入的处理延时,再将判决变量和判决比特输入到相位误差计算模块,以计算判决误差变量;
将所述判决误差变量输入到频域二态维特比模块,利用多个判决误差变量联合检测,获得修正后的判决误差变量值,其中,所述修正后的判决误差变量值即是频域二态维特比模块的某个栅格状态属性;
利用修正后的判决误差变量与缓存模块输出的判决比特进入到判决比特修正模块进行修正,输出修正比特。
8.根据权利要求7所述的一种二态维特比检测方法,其特征在于:所述的差分判决模块获得判决比特和判决变量的方法包括:
将一个信号对应的全部差分相位值相加起来,或者将部分差分相位值相加起来,获得判决变量;
如果判决变量大于0,则判决比特为1;否则,判决比特为0。
9.根据权利要求7所述的一种二态维特比检测方法,其特征在于,所述相位误差计算模块计算判决误差变量包括:
将判决比特映射为-pi/2或pi/2;
将判决变量映射为-pi/2至pi/2之间的映射值;
根据相位误差计算公式err_phase=dec_sig_phase-dec_bit_phase,计算出相位误差,其中,err_phase表示相位误差,dec_sig_phase表示实际情况下判决变量的映射值,dec_bit_phase表示判决比特的映射值。
10.根据权利要求7所述的一种二态维特比检测方法,其特征在于,所述相位误差值的取值范围为-pi以上,小于pi。
11.根据权利要求7或10所述的一种二态维特比检测方法,其特征在于,所述相位误差计算模块计算判决误差变量还包括:
对相位误差值进行模2×pi的操作。
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