[发明专利]一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法有效
申请号: | 201410717638.7 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN104501958A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 季一勤;刘丹丹;刘华松;姜承慧;赵志宏;庄克文;冷健 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 |
主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 刘东升 |
地址: | 300308 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 剩余 反射率 光谱 测试 附件 方法 | ||
1.一种红外剩余反射率光谱测试附件,其特征在于,其设置为:分别测量标准反射镜的尺寸、标准反射镜距离前、后、左、右参考位置的距离、以及标准反射镜在校准时所在平面与参考平面之间的距离;根据测试结果设计所述测试附件,使测试光路与背景扫描光路一致,在不改变VW型绝对反射附件校准光路即V型光路的前提下,使测试附件替代VW型绝对反射附件的镀金反射镜标准片的位置,以达到测试被测样品红外反射光谱的目的;
所述红外剩余反射率光谱测试附件具体提供如下方式获得:
选定VW型绝对反射附件支撑选择装置的两侧支架的上表面为参考平面,测量参考平面与校准光路设置的镀金反射镜标准片反射面之间的距离t,由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的厚度为t;
测量两侧支架外侧的距离为l,由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的内侧长度为l,红外剩余反射率光谱测试附件两侧设置适当长度的凸出,用于与标准附件的两侧支架配合定位;
测量两侧支架顶端的宽度w,由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的宽度为w;
测量镀金反射镜标准片的长度a和宽度b,以及其中心位置,在红外剩余反射率光谱测试附件上的相应位置处设置出长度为α*a、宽度为β*b的长方形孔,其中α≥1,β≥1.4。
2.一种红外剩余反射率光谱测试方法,其特征在于,其基于权利要求1所述红外剩余反射率光谱测试附件来实施,测试时需要傅立叶红外光谱仪、VW型绝对反射附件以及与VW型绝对反射附件配套使用的红外剩余反射率光谱测试附件;
所述红外剩余反射率光谱测试附件安放在VW型绝对反射附件的最上面,安放时镀金标准片旋至W型光路位置,其尺寸与VW型绝对反射附件配合;
所述测试方法包括如下步骤:
步骤S1:在傅立叶红外光谱仪上安装标配的VW型绝对反射附件;
步骤S2:采用标配的VW型绝对反射附件校准背景光谱能量;
步骤S3:采用标配的VW型绝对反射附件测试得到校准片,即附件配置的镀金反射镜的反射率光谱R1(λ);其中,λ为波长;
步骤S4:采用前述红外剩余反射率光谱测试附件测试校准片反射率光谱R2(λ);
步骤S5:采用步骤S4中红外剩余反射率光谱测试附件测试得到减反射膜剩余反射率光谱R3(λ),根据如下公式计算得到减反射膜剩余反射率光谱R(λ):
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