[发明专利]一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法

说明书

技术领域

本发明属于反射率光谱测量技术领域，具体涉及一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法。

背景技术

减反射薄膜在主要应用于透射光学元件中，可以使光学元件在改变光路的同时尽量减少入射光能量的损耗，因此要求减反射薄膜具有更高的光谱透过率；而另一方面，镀制减反射薄膜光学元件的剩余反射则会带来杂散光，严重影响光学系统的功能，因此仅测试减反射薄膜的透过率光谱是不够的，需要同时对其反射率光谱进行测量。

目前剩余反射的测试大部分是基于激光波长的，例如专利号CN201310739982.1一种大口径激光玻璃包边剩余反射的测量装置及方法。反射率光谱的测量是基于光谱仪实现的，应用最多的是VW型测量光路，例如德国Bruker公司的的VW绝对反射附件，光路校准时采用V型光路，测试时则为W型光路，这种装置的共同特点是更适合高反射率光谱测试，而对于减反射薄膜剩余反射测试存在噪声过大的问题，无法实现剩余反射率光谱的精确测试；另外还存在测试样品尺寸限制问题，只能测试在一定尺寸范围内的样品的红外反射光谱，无法实现大尺寸样品测试。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何解决减反射薄膜剩余反射测试时的噪声过大的问题和测试样品尺寸限制问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供一种红外剩余反射率光谱测试附件，其设置为：分别测量标准反射镜的尺寸、标准反射镜距离前、后、左、右参考位置的距离、以及标准反射镜在校准时所在平面与参考平面之间的距离；根据测试结果设计所述测试附件，使测试光路与背景扫描光路一致，在不改变VW型绝对反射附件校准光路即V型光路的前提下，使测试附件替代VW型绝对反射附件的镀金反射镜标准片的位置，以达到测试被测样品红外反射光谱的目的；

所述红外剩余反射率光谱测试附件具体提供如下方式获得：

选定VW型绝对反射附件支撑选择装置的两侧支架的上表面为参考平面，测量参考平面与校准光路设置的镀金反射镜标准片反射面之间的距离t，由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的厚度为t；

测量两侧支架外侧的距离为l，由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的内侧长度为l，红外剩余反射率光谱测试附件两侧设置适当长度的凸出，用于与标准附件的两侧支架配合定位；

测量两侧支架顶端的宽度w，由此设置红外剩余反射率光谱测试附件的宽度为w；

测量镀金反射镜标准片的长度a和宽度b，以及其中心位置，在红外剩余反射率光谱测试附件上的相应位置处设置出长度为α*a、宽度为β*b的长方形孔，其中α≥1，β≥1.4。

此外，本发明还提供一种红外剩余反射率光谱测试方法，其基于所述红外剩余反射率光谱测试附件来实施，测试时需要傅立叶红外光谱仪、VW型绝对反射附件以及与VW型绝对反射附件配套使用的红外剩余反射率光谱测试附件；

所述红外剩余反射率光谱测试附件安放在VW型绝对反射附件的最上面，安放时镀金标准片旋至W型光路位置，其尺寸与VW型绝对反射附件配合；

所述测试方法包括如下步骤：

步骤S1：在傅立叶红外光谱仪上安装标配的VW型绝对反射附件；

步骤S2：采用标配的VW型绝对反射附件校准背景光谱能量；

步骤S3：采用标配的VW型绝对反射附件测试得到校准片，即附件配置的镀金反射镜的反射率光谱R₁(λ)；其中，λ为波长；

步骤S4：采用前述红外剩余反射率光谱测试附件测试校准片反射率光谱R₂(λ)；

步骤S5：采用步骤S4中红外剩余反射率光谱测试附件测试得到减反射膜剩余反射率光谱R₃(λ)，根据如下公式计算得到减反射膜剩余反射率光谱R(λ):