[发明专利]高效率高准确度加热器驱动器

说明书

本申请是申请日为2011年2月18日申请的申请号为201180009496.3，并且发明名称为“高效率高准确度加热器驱动器”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及加热器驱动器，所述加热器驱动器可用于快速热处理腔室，以在处理晶片(wafer)时提供更有效率的操作方式。

背景技术

当处理半导体晶片时，快速热处理(RTP)腔室需要控制供给灯具的功率以控制灯具所产生的热量。现有的快速热处理腔室利用包含有相位角度控制的硅控整流器(silicon controlled rectifier,SCR)的灯具驱动电路来控制提供给灯具的功率，以控制晶片处理。这些基于硅控整流器的灯具驱动电路具有许多限制晶片处理的效率的缺点。基于硅控整流器途径的一系列缺点在于电流的功率因数较低。在低功率水平时特别如此，其中功率因数(power factor)可小于50％。因此造成半导体处理的能量没有效率。

除此之外，基于硅控整流器的灯具驱动电路在电压跨零点的点附近时不能被开启。这是因为硅控整流器需要一最小电压来开启。因此，受控的输出电流的最小值具有阈值。这也同样造成处理没有效率。

另一个问题是，因为硅控整流器的特性，只能在每一个周期中开启和关闭硅控整流器两次。这是由于只有当流经装置的电流为零的时候，硅控整流器才会关闭。若能对于灯具驱动器电路实现更精确的控制，则可以改善高速的温度处理。

因此，鉴于快速热处理腔室中与基于硅控整流器的灯具驱动电路相关的这些缺点，需要新的且改良的灯具驱动电路。

发明概述

本发明的一个方式提供了一种处理晶片的快速热处理腔室。所述快速热处理腔室被供应交流功率并且可包含多个卤素灯具、灯具驱动器、测量晶片温度的温度传感器；以及连接至温度传感器和灯具驱动器的温度控制器，所述温度控制器提供控制信号给第一晶体管的控制输入端和第二晶体管的控制输入端，所述控制信号为晶片温度与期望温度的函数。所述灯具驱动器包含负极连接至第一晶体管的第一端的第一二极管，所述第一二极管与负极连接至第二晶体管的第一端的第二二极管相并联，其中第一二极管的正极与第二晶体管的第二端连接至上述多个卤素灯具中的一个或多个，而第二二极管的正极与第一晶体管的第二端连接至交流功率供应器(power supply)。

根据本发明的另一方式，一种处理晶片的快速热处理腔室包括：多个卤素灯具、功率源、测量晶片温度的温度传感器以及温度控制器。所述功率源包含具有第一开关与第二开关的交流功率源(power source)，所述功率源连接至多个卤素灯具以供应功率至所述多个卤素灯具。所述温度控制器连接至温度传感器以及功率源中的第一开关和第二开关，所述温度控制器提供第一控制信号至第一开关，并且提供第二控制信号至第二开关，第一控制信号与第二控制信号为晶片温度与期望温度的函数。第一控制信号在交流功率的每半个周期中开启和关闭第一开关多次，而第二控制信号在交流功率的每半个周期中开启和关闭第二开关多次。

根据本发明的另一方式，当第二开关关闭时，第一开关开启。同样，当第二开关开启时，第一开关关闭。

根据本发明的另一方式，温度控制器形成第一控制信号和第二控制信号，作为交流功率的脉冲形式。

根据本发明的另一方式，供应给多个卤素灯具的功率的功率因数大约为1。通常，功率因数介于0.9到1之间。

根据本发明的另一方式，第一开关和第二开关为晶体管。所述晶体管可为MOSFET晶体管、双极性晶体管或绝缘栅双极性晶体管。

根据本发明的另一方式，提供了一种控制处理晶片的快速热处理腔室的方法。所述方法可包含下列步骤：感测晶片的温度；确定期望温度；温度控制器根据晶片的温度和期望温度产生第一控制信号和第二控制信号；第一控制信号在供应给温度控制器的交流功率的每半个周期中开启和关闭第一开关多次；第 二控制信号在供应给温度控制器的交流功率的每半个周期中开启和关闭第二开关多次；以及第一开关和第二开关供应功率给多个卤素灯具。

根据本发明的另一方式，第一开关与第二开关在不同时间开启。当第二开关关闭时，第一开关开启，而当第二开关开启时，第一开关关闭。

根据本发明的另一方式，温度控制器形成第一控制信号和第二控制信号，作为交流功率的脉冲形式。

根据本发明的另一方式，供应多个卤素灯具的功率的功率因数大约为1。

如上所述，第一开关及第二开关可为晶体管。晶体管可选自由MOSFET晶体管、双极性晶体管和绝缘栅双极性晶体管组成的组。