[发明专利]测试治具

说明书

一种测试治具，包含有一基板与复数导电弹片，该基板具有一凹槽及复数个线路，该凹槽自该基板的顶面凹陷形成，该些线路设于基板的顶面。该些导电弹片设置于该基板且分别电性连接该些线路，各该导电弹片具有一接触部位于该凹槽的正投影范围内，各该接触部供接触一待测电子对象的一接点。以此利用导电弹片传输测试讯号，可有效地减少传输高频测试讯号时产生的衰减。

技术领域

本发明与电性测试器具有关；特别是指一种以导电弹片接触待测电子对象的测试治具。

背景技术

按，目前用以检测电子产品的各精密电子组件间的电性连接是否确实的方法，是以使用探针卡作为一检测机与待测电子对象之间的测试讯号与电源讯号的传输接口。探针卡主要是由相互电性连接的探针与刚性的多层印刷电路板所构成，利用探针点触待测电子对象的待测部位，再以检测机传送测试讯号至待测电子对象，以进行待测电子对象的电性检测。

随着电子科技的进步，待测电子对象的指令周期与每秒的讯号传输量日益增大，检测机所输出的测试讯号的频率将随之提升。然而，作为讯号传输接口的探针为细长的结构，具有较高的微量电感，在传送高频的测试讯号时将使得电路的阻抗值大幅提升，造成高频的测试讯号大幅衰减，而容易有误判测试讯号的情形产生。

发明内容

本发明的目的是提供一种测试治具，可有效地传输高频测试讯号。

为实现上述目的，本发明提供的测试治具，用以接触一待测电子对象，该待测电子对象具有复数个接点，该测试治具包括一基板与复数导电弹片，其中，该基板具有一顶面，该基板另具有一凹槽自该顶面凹陷形成，以及复数个线路设于该顶面；该些导电弹片设置于该基板上且分别电性连接于该些线路，各该导电弹片具有一接触部位于该凹槽的正投影范围内，且该接触部供接触该待测电子对象的一该接点。

本发明的效果在于，利用导电弹片传输测试讯号，可有效地减少传输高频测试讯号时产生的衰减。

附图说明

图1为本发明一较佳实施例的测试治具立体图。

图2为本发明一较佳实施例的测试治具分解立体图。

图3为本发明一较佳实施例的测试治具局部俯视图。

图4为本发明一较佳实施例的局部放大俯视图。

图5为图1中沿5-5线的剖视图。

图6为不同频率的测试讯号通过一较佳实施例测试治具后的衰减关系图。

附图中符号说明：

1测试治具，10基板，10a顶面，10b底面，102凹槽，104讯号线路，106接地线路，108贯孔，12接头，122讯号电极，124壳体，14导电弹片，142端部，144凸点，16缓冲垫，18基座，182螺孔，184穿孔，20弹性件，202螺纹管，202a开放端，204顶抵块，206弹簧，22定位座，222容槽，224穿孔，24外壳，242锥孔，2待测电子对象，2a接点，S11反射损耗。

具体实施方式

为能更清楚地说明本发明，举较佳实施例并配合附图详细说明如后。

请参阅图1至图5所示，为本发明一较佳实施例的测试治具1，该测试治具1是供电性连接一待测电子对象2，该待测电子对象2包含有一复数个接点2a，该测试治具1包含有一基板10、二接头12、复数导电弹片14、一缓冲垫16、一基座18、一弹性件20、一定位座22与一外壳24。