[发明专利]一种半导体薄膜型的热电器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410728507.9 申请日: 2014-12-04
公开(公告)号: CN104409621A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 肖忠良;周清清;李仙清;卢意鹏;胡超明;吴道新;曹忠;曾巨澜 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: H01L35/12 分类号: H01L35/12;H01L35/02;H01L35/34
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 410004 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 薄膜 热电器件 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体技术领域,特别是涉及一种半导体薄膜型的热电器件及其制备方法。

背景技术

随着全球工业化进程的加速,矿物能源的短缺和枯竭成为人类面临的重大课题;而另一方面,人类对能源的利用率又太低,比如火电厂的燃煤利用率大约为40%,铝电解的能源利用率大约为30%,其中有大量的低品位热被浪费。

在现有技术中,利用热电器件可收集利用大量的低品味热,将低品味热转换为相应的电能。在实际应用中,将热电器件的一侧贴于产生低品味热的装置的表面,即可将相应的低品味热转换为电能。

由于现有技术中的热电器件均为硬质的,因此当产生低品味热的装置的表面不规则时,热电装置并不能牢固的贴于上述装置的表面,进而不能利用上述装置所产生的低品味热。

发明内容

本发明实施例中提供了一种半导体薄膜型的热电器件及其制备方法,以在产生低品味热的装置的表面不规则时,可牢固的贴于该装置的表面,进而可利用该装置所产生的低品味热。除此本发明采用化学镀技术制备导电薄膜,电镀技术制备P型薄膜热电元件和N型薄膜热电元件,工艺条件温和,便于大规模自动化生产。

为了解决上述技术问题,本发明实施例公开了如下技术方案:

一种半导体薄膜型的热电器件,包括:上层柔性绝缘基片、下层柔性绝缘基片、M个热电单元、下层导电膜和M-1个第一绝缘层,所述M为整数;

其中,所述M个热电单元,置于所述上层柔性绝缘基片和下层柔性绝缘基片的中间,且M个热电单元通过下层导电膜相串联,一个第一绝缘层置于两个热电单元之间,M-1个第一绝缘层置于所述M个热电单元之间;

每个热电单元包括P型半导体薄膜热电元件、N型半导体薄膜热电元件、上层导电膜和第二绝缘层,所述P型半导体薄膜热电元件和N型半导体薄膜热电元件通过所述上层导电膜相连通,且所述第二绝缘层位于所述P型半导体薄膜热电元件和N型半导体薄膜热电元件中间。

优选的,所述上层导电膜为铜膜或银膜,所述下层导电膜为铜膜或银膜。

优选的,所述上层柔性绝缘基片由聚酰亚胺薄片、丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物ABS塑料薄片或纳米陶瓷薄片制成,所述下层柔性绝缘基片由聚酰亚胺薄片、ABS塑料薄片或纳米陶瓷薄片制成。

一种制备半导体薄膜型热电器件的方法,所述方法包括:

在上层柔性绝缘基片的下表面镀上层导电膜;

在所述上层导电膜上,每间隔预设长度,印刷绝缘层;

在所述绝缘层的间隔位置,镀M个P型半导体薄膜热电元件;

除去所述上层导电膜下表面的绝缘层;

在每个P型半导体薄膜型热电元件的周围,印刷绝缘层;

在P型半导体薄膜热电元件的间隔位置,镀M个N型半导体薄膜热电元件;

除去所述P型半导体薄膜热电元件周围的绝缘层;

在所述P型半导体薄膜热电元件和N型半导体薄膜热电元件间印刷第二绝缘层;

腐蚀掉所述N型半导体薄膜热电元件和P型半导体薄膜热电元件间的上层导电膜;

在所述N型半导体薄膜热电元件和P型半导体薄膜热电元件间印刷第一绝缘层;

在所述N型半导体薄膜热电元件和P型半导体薄膜热电元件的下方镀下层导电膜;

将所述下层导电膜粘贴至下层柔性绝缘基片的上表面。

优选的,所述在上层柔性绝缘基片的下表面镀上层导电膜,包括:

采用化学镀技术在所述上层柔性绝缘基片的下表面镀上层导电膜。

优选的,所述在上层导电膜中未被绝缘层覆盖的位置,镀M个P型半导体薄膜热电元件,包括:

在所述上层导电膜中未被绝缘层覆盖的位置,采用电化学方法从左至右依次电镀M个P型半导体薄膜热电元件;

所述P型半导体薄膜热电元件的电镀温度为大于25摄氏度,小于40摄氏度,镀液的PH值大于1,小于3。

优选的,所述在上层导电膜中未被绝缘层和P型半导体薄膜热电元件覆盖的位置,镀M个N型半导体薄膜热电元件,包括:

在所述上层导电膜中未被绝缘层和P型半导体薄膜热电元件覆盖的位置,采用电化学方法从左至右依次电镀M个N型半导体薄膜热电元件;

所述N型半导体薄膜热电元件的电镀温度为大于30摄氏度,小于40摄氏度,镀液的PH值为大于0,小于1。

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