[发明专利]时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法及装置在审
申请号: | 201410737350.6 | 申请日: | 2014-12-05 |
公开(公告)号: | CN104535959A | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 黄翔东;冼弘宇;闫子阳;景森学;朱展宏 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01S3/00 | 分类号: | G01S3/00;G01S7/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 温国林 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时空 采样 信号 频率 doa 联合 测量方法 装置 | ||
1.一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法,其特征在于,所述测量方法包括以下步骤:
布置含L个传感器阵元的线性非均匀阵列,以传感器阵元1为参考阵元,定义传感器阵元i与传感器阵元1的间距为di,1;
在同一时间间隔T0内,L个传感器阵元分别以采样速率F1~FL对空间入射信号做并行欠采样,其中,F1~FL具有正的公约数Mf;
对L路信号样本做DFT,用Candan内插估计器对各路DFT谱峰值做频率、相位校正,得到L对归一化频率及相位估计值;
采用闭式CRT算法,通过L对归一化频率获取信号频率值
求出传感器阵元1与其它阵元的接收信号相位差估计值,进一步构成相位余数,最后算出空间信号入射角。
2.根据权利要求1所述的一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法,其特征在于,所述采用闭式CRT算法,通过L对归一化频率获取信号频率值的步骤具体为:
把作为频率余数,以各传感器阵元采样速率的值作为CRT所需的模,把余数组质数组Γ1…Γi…ΓL以及Mf代入闭式CRT求得信号频率值
3.根据权利要求1所述的一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法,其特征在于,所述求出传感器阵元1与其它阵元的接收信号相位差估计值,并进一步构成相位余数,算出空间信号入射角具体为:
求出传感器阵元1与其它阵元的接收信号相位差估计值并进一步构成相位余数;将相位余数组、质数组η1~ηL-1及参数Mθ代入闭合形式CRT重构出非负常数N0,进而由N0算出空间信号入射角
4.根据权利要求1所述的一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法,其特征在于,所述时空欠采样下信号频率及DOA联合测量装置包括:传感器阵元、A/D采样器、DSP和输出驱动及其显示电路,
空间远场窄带信号s(t)以某一入射角θ到达各传感器阵元,得到阵列接收信号;各传感器阵元上的A/D采样器分别以F1,F2,...,FL的速率对信号并行采样,将得到的样本序列并行输入到DSP器件,经过DSP的内部算法处理,得到入射信号的频率估计和DOA估计,最后借助输出驱动及其显示电路显示估计结果。
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