[发明专利]一种IC烧录取放设备及其实现方法

权利要求书

1.一种IC烧录取放设备，其特征在于，所述取放设备包括：

一放料部，其上设置有一吸取待烧录IC的放料吸嘴；

一取料部，其上设置有一吸取已烧录IC的取料吸嘴；

一烧录器，所述烧录器用于对放入的IC进行烧录操作；

所述放料部从一预定的放料点吸取待烧录IC后，将所述待烧录IC放入烧录器中进行烧录操作；所述取料部从所述烧录器中吸取已烧录IC后，将其放置到预定的取料点，所述放料点用于存放待烧录IC，所述取料点用于存放已烧录IC。

2.根据权利要求1所述的IC烧录取放设备，其特征在于，所述取料吸嘴与放料吸嘴为真空吸嘴。

3.一种如权利要求1所述的IC烧录取放设备的实现方法，应用于放料部，其特征在于，包括以下步骤：

A1、检测用于存放待烧录IC的放料点是否放满未烧录IC；

B1、若已放满，则控制所述放料部根据预设的放料点坐标至所述放料点吸取待烧录IC；否则，执行步骤D1；

C1、对所述吸取的待烧录IC进行CCD比对，若比对结果处于一预先设置的阀值范围之内，则将所述待烧录IC放入烧录器指定位置中；

D1、启动烧录器对待烧录IC进行烧录。

4.根据权利要求4所述的IC烧录取放设备的实现方法，应用于取料部，其特征在于，包括以下步骤：

A2、检测已执行烧录的IC是否已烧录成功；

B2、若已烧录成功，则控制所述取料部根据预设的取料点坐标至所述烧录器吸取已烧录好的IC，之后将所述已烧录好的IC放置取料点，所述取料点用于存放已烧录好的IC；

C2、判断所述取料点是否为空，若为空，则控制取料操作结束。

5.根据权利要求3所述的IC烧录取放设备的实现方法，其特征在于，所述步骤C1中进行CCD比对具体包括以下步骤：

C11、所述放料部吸取待烧录IC后，将所需检测位置取出；

C12、根据标准点到线距离公式计算图片边缘，通过所述边缘计算出图片的4个角，同时通过所述4个角确定该图片的中心位置；

C13、通过所述中心位置和CCD中心位置进行比对，计算出所述待烧录IC在X/Y轴方向的偏移量，同时通过相邻两个角直线的斜率计算出所述待烧录IC的偏移角度；

C14、当所述偏移量及偏移角度小于一预定阀值时，判定所述待烧录IC已放入指定位置，之后将所述待烧录IC放入烧录器中进行烧录操作。