[发明专利]一种IC烧录取放设备及其实现方法

说明书

技术领域

本发明涉及IC烧录技术领域，尤其涉及的是一种IC烧录取放设备及其实现方法。

背景技术

国内的IC烧录行业中，IC取、放系统都是控制一套X/Y轴既做取料动作，又做放料动作。该系统存在一个缺陷是：当可以取料时，此时 X/Y轴正在做放料动作，不能及时取料只有等放料动作完成后才进行取料动作，这样做大大降低了UPH。传统的改进模式是右两吸嘴模式增加到四吸嘴模式，但还是没有从根本上解决取、放料不能独立进行的缺陷。

因此，现有技术有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种IC烧录取放设备及其实现方法，旨在解决现有的IC烧录取放料方法中存在的取放料不能独立运行导致的效率低下问题。

本发明的技术方案如下：

一种IC烧录取放设备，其中，所述取放设备包括：

一放料部，其上设置有一吸取待烧录IC的放料吸嘴；

一取料部，其上设置有一吸取已烧录IC的取料吸嘴；

一烧录器，所述烧录器用于对放入的IC进行烧录操作；

所述放料部从一预定的放料点吸取待烧录IC后，将所述待烧录IC放入烧录器中进行烧录操作；所述取料部从所述烧录器中吸取已烧录IC后，将其放置到预定的取料点，所述放料点用于存放待烧录IC，所述取料点用于存放已烧录IC。

所述IC烧录取放设备，其中，所述取料吸嘴与放料吸嘴为真空吸嘴。

所述IC烧录取放设备的实现方法，应用于放料部，其中，包括以下步骤：

A1、检测用于存放待烧录IC的放料点是否放满未烧录IC；

B1、若已放满，则控制所述放料部根据预设的放料点坐标至所述放料点吸取待烧录IC；否则，执行步骤D1；

C1、对所述吸取的待烧录IC进行CCD比对，若比对结果处于一预先设置的阀值范围之内，则将所述待烧录IC放入烧录器指定位置中；

D1、启动烧录器对待烧录IC进行烧录。

所述IC烧录取放设备的实现方法，应用于取料部，其中，包括以下步骤：

A2、检测已执行烧录的IC是否已烧录成功；

B2、若已烧录成功，则控制所述取料部根据预设的取料点坐标至所述烧录器吸取已烧录好的IC，之后将所述已烧录好的IC放置取料点，所述取料点用于存放已烧录好的IC；

C2、判断所述取料点是否为空，若为空，则控制取料操作结束。

所述IC烧录取放设备的实现方法，其中，所述步骤C1中进行CCD比对具体包括以下步骤：

C11、所述放料部吸取待烧录IC后，将所需检测位置取出；

C12、根据标准点到线距离公式计算图片边缘，通过所述边缘计算出图片的4个角，同时通过所述4个角确定该图片的中心位置；

C13、通过所述中心位置和CCD中心位置进行比对，计算出所述待烧录IC在X/Y轴方向的偏移量，同时通过相邻两个角直线的斜率计算出所述待烧录IC的偏移角度；

C14、当所述偏移量及偏移角度小于一预定阀值时，判定所述待烧录IC已放入指定位置，之后将所述待烧录IC放入烧录器中进行烧录操作。

本发明所提供的IC烧录取放设备及其实现方法，所述设备包括一放料部，其上设置有一吸取待烧录IC的放料吸嘴；一取料部，其上设置有一吸取已烧录IC的取料吸嘴；一烧录器，所述烧录器用于对放入的IC进行烧录操作。通过多线程技术控制一取料部和一放料部，即两套X/Y轴，一套X/Y轴专门负责放料动作，另一套X/Y轴专门负责取料动两作，两套X/Y轴同时、独立进行、各所其职，有效地解决了取料不及时问题，提高了取料动作的UPH。

附图说明

图1为本发明的IC烧录取放设备示意图。

图2为本发明的IC烧录取放设备实现方法的较佳实施例流程图。

图3为本发明的IC烧录取放设备实现方法的应用实施例流程图。

具体实施方式

本发明提供一种IC烧录取放设备及其实现方法，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。