[发明专利]多轴型三维测量设备

权利要求书

1.一种多轴型三维测量设备，包括：

多轴臂机构；

探测器，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于测量工件；以及

投影仪，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于根据所述工件和所述探测器之间的距离来对所投影的投影图像的范围进行缩放，

其中，所述投影仪被配置为与所述工件和所述探测器之间的距离的差异无关地投影所述工件的全尺寸投影图形以使所述全尺寸投影图形与所述工件一致，并且投影用于识别所述探测器的测量预定位置的显示信息。

2.根据权利要求1所述的多轴型三维测量设备，其中，所述投影图像的投影方向被设置成与所述探测器的末端方向相同的方向。

3.根据权利要求1或2所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息被配置为在所述工件的测量前后发生变化。

4.根据权利要求3所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与所述探测器的已测量位置有关的信息。

5.根据权利要求4所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括所述探测器的所述测量预定位置的设计值和已测量位置的测量值。

6.根据权利要求5所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与对形状同所述工件的形状相同的工件进行测量的情况下的测量过程、测量指示和测量技术有关的测量简档信息。

7.根据权利要求1所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与所述探测器的已测量位置有关的信息。

8.根据权利要求7所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括所述探测器的所述测量预定位置的设计值和已测量位置的测量值。

9.根据权利要求8所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与对形状同所述工件的形状相同的工件进行测量的情况下的测量过程、测量指示和测量技术有关的测量简档信息。

10.根据权利要求1所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括所述探测器的所述测量预定位置的设计值和已测量位置的测量值。

11.根据权利要求10所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与对形状同所述工件的形状相同的工件进行测量的情况下的测量过程、测量指示和测量技术有关的测量简档信息。

12.根据权利要求1所述的多轴型三维测量设备，其中，所述显示信息进一步包括与对形状同所述工件的形状相同的工件进行测量的情况下的测量过程、测量指示和测量技术有关的测量简档信息。