[发明专利]多轴型三维测量设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种多轴型三维测量设备，并且尤其涉及被构造成测量者能够在无需将视线从工件移开的情况下确认为了测量所要确认的信息的能够进行高效和高精度测量的多轴型三维测量设备。

背景技术

专利文献1公开了一种多轴型三维测量设备。该多轴型三维测量设备具有用于测量工件的探测器以及在末端包括该探测器的多轴臂机构。在该多轴型三维测量设备中，将进行测量的工件的位置(测量预定位置)显示在所连接的笔记本型个人计算机或台式个人计算机(计算机)的显示模块(显示器)上，并且探测器在参考设计信息等的情况下以接触或非接触方式来测量该工件的测量预定位置。换句话说，该多轴型三维测量设备被构造成测量者在个人计算机的显示模块上确认要测量的工件的测量预定位置等，并且在将该位置与实际工件进行对照的情况下进行测量。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-47014

换句话说，在如专利文献1所示的多轴型三维测量设备中，在每次测量时，测量者需要重复用于交替地观看工件和个人计算机的显示模块的操作。也就是说，由于每次测量时测量者将视线从工件移开，因而难以维持高测量效率并且存在例如引发测量错误的担忧。特别地，对于经验少的测量者而言，无法进行高效的测量，并且测量效率或者测量精度可能显著下降。

另外，考虑了用于将显示模块小型化、将显示模块配置在测量者附近并且防止测量者的视线从工件移开的技术。然而，即使在这种情况下，仍然重复用于交替地观看显示模块和工件的操作，显示模块的显示大小还降低可视性，并且可能地，该技术无法实现上述问题的解决方案。

发明内容

本发明的典型实施方式提供了一种多轴型三维测量设备，其中可以通过将该多轴型三维测量设备构造成测量者能够在无需将视线从工件移开的情况下确认为了测量所要确认的信息，来进行高效和高精度的测量。

根据典型实施方式的一种多轴型三维测量设备，包括：

多轴臂机构；

探测器，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于测量工件；以及

投影仪，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于根据所述工件和所述探测器之间的距离来对所投影的投影图像的范围进行缩放，

其中，所述投影仪被配置为与所述工件和所述探测器之间的距离的差异无关地投影所述工件的全尺寸投影图形以使所述全尺寸投影图形与所述工件一致，并且投影用于识别所述探测器的测量预定位置的显示信息。

所述投影图像的投影方向可以被设置成与所述探测器的末端方向相同的方向。

所述显示信息可以被配置为在所述工件的测量前后发生变化。

所述显示信息可以进一步包括与所述探测器的已测量位置有关的信息。

所述显示信息可以进一步包括所述探测器的所述测量预定位置的设计值和已测量位置的测量值。

所述显示信息可以进一步包括与对形状同所述工件的形状相同的工件进行测量的情况下的测量过程、测量指示和测量技术有关的测量简档信息。

根据本发明，可以通过构造成测量者能够在无需将视线从工件移开的情况下确认为了测量所要确认的信息，来进行高效和高精度的测量。

附图说明

图1是示出根据本发明第一实施方式的多轴型三维测量设备的一个示例的示意图。

图2A是示出图1的多轴型三维测量机的一个示例的示意图。

图2B是图1的多轴型三维测量机的探测器和投影仪相对于臂头的配置图。

图3是示出工件、多轴型三维测量机和投影图像的范围之间的关系的示意图。

图4是示出另一工件的一个示例的示意图。

图5是示出与图4的工件有关的设计信息的一个示例的示意图。

图6是示出将图5的设计信息投影到图4的工件上的状态的一个示例的示意图。

图7是示出图6的局部的一个示例的示意图。

图8是示出用于识别图7的测量预定位置的显示信息的一个示例的示意图。

图9是示出用于从图7的状态识别已测量位置的显示信息的一个示例的示意图。

图10是示出用于识别另一工件的测量预定位置和已测量位置的显示信息的一个示例的示意图。

图11是示出投影图像的显示过程的一个示例的流程图。