[发明专利]基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法在审
申请号: | 201410766047.9 | 申请日: | 2014-12-12 |
公开(公告)号: | CN104486222A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 俞洋;彭喜元;陈修远;彭睿 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | H04L12/727 | 分类号: | H04L12/727 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张利明 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 优化 算法 小时 缺陷 测试 关键 路径 选择 方法 | ||
1.基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,其特征在于,它包括以下步骤:
步骤一:读取测试电路的节点在连接信息时的算法、数据存储方法和数据存储格式;
步骤二:将测试电路转换成有向无环拓扑图的形式,并将该有向无环拓扑图存储为邻接矩阵,然后将该邻接矩阵作为目标电路网络;
步骤三:利用蚁群优化算法将所有蚂蚁均放置在目标电路网络的输入节点处;
步骤四:每只蚂蚁独立的根据概率公式选择下一步要到达的节点;
步骤五:分别判断每只蚂蚁在步骤四获得的下一步要到达的节点是否为指定输出节点,是则执行步骤六,否则返回步骤四;
步骤六:将完成路径选择的蚂蚁走过的路径作为待选择的路径;
步骤七:比较所有待选择的路径的节点数量,将节点数目最多的路径作为关键路径。
2.根据权利要求1所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,其特征在于,步骤二所记载的将测试电路转换成有向无环拓扑图的形式的具体方法为:将测试电路在连接信息时的算法转换为有向无环路图的算法,将测试电路在连接信息时的数据存储方法转换为有向无环路图的数据存储方法,将测试电路在连接信息时的数据存储格式转换为有向无环路图的数据存储格式。
3.根据权利要求1所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,其特征在于,步骤四所述概率公式为:
其中,为t时刻蚂蚁k从点i转移到点j的概率,τij(t)为t时刻点i和点j之间路径上的信息素强度,τiu(t)t时刻点i和所有能够与点i相连的点之间路径上的信息素强度,u为包含所有能够与点i相连的点的集合,Jk为蚂蚁k在i点处能够通向的点的集合,α为信息素强度的重要程度。
4.根据权利要求1所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,其特征在于,步骤五中判断下一步要到达的节点是否为指定输出节点的方法为:
对目标电路网络中所有节点进行编号,设定输出节点的编号为A,判断蚂蚁当前所在节点的编号是否为A,是则该节点为输出节点。
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